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61.
62.
π-complemented algebras are defined as those (not necessarily associative or unital) algebras such that each annihilator ideal is complemented by other annihilator ideal. For a given semiprime algebra A, we discuss the π-complementation of the unitisation algebra A 1 of A. Moreover, if in addition the multiplication algebra ?(A) of A is also semiprime, we study the π-complementation in the algebras ?(A) and ??(A) (the multiplication ideal of A). In associative setting, we prove that A is π-complemented if and only if ??(A) is π-complemented, and that A 1 π-complemented if and only if ?(A) is π-complemented. 相似文献
63.
Akira Shida 《代数通讯》2013,41(12):4535-4541
Let φ:R → Sbe a local homomorphism of Gorenstein local rings of finite flat dimension. We prove if M is a stable maximal Cohen-Macaulay R-module, then M ?R Sis also a stable maximal Cohen-Macaulay S-module. By using it, we also prove that index(R) ≤ index(S). 相似文献
64.
C.M. da Fonseca 《Linear and Multilinear Algebra》2013,61(3):317-320
We propose several problems on the Fibonacci polytope. 相似文献
65.
简易高斯灰度扩散模型的误差分析及适用性研究 总被引:2,自引:0,他引:2
为了验证简易高斯灰度扩散模型的适用性,与传统高斯灰度扩散模型进行了对比分析。将两种高斯模型做归一化处理,设定检验像素,分析检验像元灰度的归一化值的相对误差;进行星图模拟,得到4个不同高斯半径(σ)下灰度赋值相对误差与像点映射位置偏离值的关系曲线,整体上误差随σ的增大而减小;对星图模拟得到的系列星像点采用灰度重心法提取质心,质心误差随σ增大而减小,传统模型模拟像点的质心提取精度比简易模型高约2个数量级。无噪声条件下σ=0.671时,简易模型模拟像点最大质心误差仅为0.033pixel。仿真结果表明:单就像点外形仿真而言,当σ较小时,简易模型不再适用;但针对像点的质心定位及后续算法,简易模型带来质心误差量级可以忽略,运算量更小,适于应用。 相似文献
66.
为进一步提高CCD图像测角的摆角测量精度,提出一种基于多目标探测的摆镜动态角度测量方法。该方法采用多条等宽的平行狭缝作为CCD探测目标,首先利用灰度质心算法得到各狭缝的质心位置,进而将各狭缝的质心位置进行平均运算,得到摆镜的动态角位置。模型表明当使用m条等宽狭缝目标进行测量时,其动态测量误差方差为单目标方法的1/m。实验结果证明,该方法可以有效地提高摆镜动态角位置测量精度。 相似文献
67.
68.
星点图像超精度亚像元细分定位算法的研究 总被引:6,自引:0,他引:6
在CCD星敏感器中,星点图像质心定位的准确性影响星图识别的正确性,也决定了星敏感器测量的有效性。质心法是星点质心亚像元定位的传统方法,然而,它存在系统误差和随机误差。分析了误差产生的原因。在传统质心法的基础上提出了采用二元线性插值和自适应质心窗来改善信噪比,并对误差进行校正,实验证明了它比传统的质心法有更高的精度。 相似文献
69.
为实现电路板上柱状元器件焊接垂直度的精准检测,设计了一款基于DSP+FPGA的垂直度识别系统。DSP承担核心算法任务,FPGA作为数据预处理单元,完成接口的逻辑、系统的互连以及数据通道。在硬件平台上嵌入了基于元器件形心配准的垂直度识别算法。首先对预处理的图像利用改进的Canny算法提取元器件的像素级边缘,并采用边缘跟踪算法去除噪点和干扰边缘并对元器件进行编号,在粗提取的边缘上用Zernike矩算法来精确定位元器件亚像素级边缘。在此基础上,提取元器件轮廓的最小外接矩形来修正边缘并得到每个元器件的形心坐标,最后根据形心的偏移距离来完成每个元器件垂直度的识别。实验结果表明,该垂直度识别系统的设计方案识别结果精度高,检测速度快,满足实时性要求,具有重要的实际工程意义。 相似文献
70.