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生产制造系统在某种程度上具有不确定性,库存量是影响生产系统的诸多随机变量之一,它随着市场需求、库存成本、企业生产能力等的改变而改变.本文以原有的动态随机生产函数模型为基础,通过在模型中引入库存变化这一随机因素,对该理论模型进行了改进与扩充,使其更加符合生产系统的实际. 相似文献
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提出了一种基于傅里叶变换红外(FTIR)反射谱的动态随机存储器(DRAM)深沟槽结构测量方法与系统。给出了测量原理与方法,设计了测量系统光路。通过可变光阑调节探测光斑大小并选择合适的入射角,消除了背面杂散光反射干扰的影响,大大提高了信噪比。对DRAM深沟槽样品进行反射光谱图测试与实验研究,表明所述方法与系统能够提取出纳米级精度的深沟槽参数。该技术提供了一种无接触、非破坏、快速、低成本和高精度的深沟槽结构测量新途径,在集成电路制造过程中的在线监测与工艺控制方面具有广阔的应用前景。 相似文献