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Effect of Alumina and Chromium Interlayers on Microstructures and Optical Properties of Thin Ag Films on Glass Substrates 
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下载免费PDF全文 Effects of alumina and chromium interlayers on the microstructure and optical properties of thin Ag films are investigated by using spectrophotometry, x-ray diffraction and AFM. The characteristics of Ag films in Ag/glass, Ag/l2O3/glass and Ag/Cr/glass stacks are analysed. The results indicate that the insertion of an Al2O3 or Cr layer decreases the grains and influences the reflectance of Ag films. The reflectance of the Ag film can be increased by controlling the thickness of alumina interlayer. The stability of Ag films is improved and the adhesion of Ag films on glass substrates is enhanced by alumina as an interlayer. 相似文献
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微波消解-原子吸收法测定氧化铝为载体的钯催化剂中钯 总被引：2，自引：0，他引：2
报道了微波消解-AAS法测定氧化铝为载体的钯催化剂中钯的新方法,试验了微波消解溶样条件（溶解试剂、压力、时间和功率等）,研究了测定介质的影响,通过在样品测定液中加入铝基体至铝浓度为4 mg/mL,消除了铝对钯测定的干扰.该法测定结果与光度法的结果一致,相对标准偏差小于1.5%（n=5）. 相似文献
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