熔融制样X射线荧光光谱法测定碳酸盐岩样品中的主次成分

采用复合熔剂玻璃熔片法制备样片，X射线荧光光谱法测定碳酸盐岩样品中SiO₂、Fe₂O₃、Al₂O₃、TiO₂、CaO、MgO、K₂O、Na₂O、MnO和P₂O₅等主次成分.使用理论α系数校正基体效应，国家一级标准物质验证，方法简单快速.测量结果各元素相对标准偏差（RSD，n=12）低于10%（除含量在检出限附近的元素外），检出限低，能够符合地矿行业的要求.