摩擦磨损试验机模拟活塞环-缸套摩擦行为的功能开发

参考活塞环-缸套的实际运行条件,结合SRV-4摩擦磨损试验机自身的性能特点和工作原理,通过开发设计,增加合理的硬件及软件测试条件,实现摩擦磨损试验机模拟活塞环-缸套摩擦行为的功能.系统测试结果表明：功能开发后的摩擦磨损试验机可在较短时间内获得活塞环-缸套摩擦副性能优劣的试验数据,满足快速、直观评价活塞环-缸套的摩擦磨损性能的需要,在活塞环-缸套摩擦副研究中具有重要的应用价值.     

半导体光生电荷分离及迁移原位X射线光电子能谱仪表征分析系统的研制

在确保X射线光电子能谱仪（XPS）原有超高真空系统及性能指标的基础上,设计并研制出一套适用于半导体光生电荷分离及迁移的原位XPS分析测试系统.将XPS与半导体光照体系相结合,实现了外载激发光源与X射线同步照射于半导体表面,观测并记录样品中特征元素结合能峰位数据.通过对比光照前后结合能峰位变化,判定光致激发半导体材料光生电荷分离及迁移的方向及确定其量化数据.     

高分辨连续光源原子吸收光谱仪的改造及功能拓展

以高分辨连续光源原子吸收光谱仪为基础，通过对仪器硬件系统的改造、相关附件的安装以及软件的升级更新，实现砷、汞等重金属元素，铝、钛、锡等高温元素以及高盐样品的准确测定，从而实现了仪器的升级改造及功能拓展，应用范围得到提升，为研究工作提供更全面的无机元素分析.     

电感耦合等离子体发射光谱仪高电离能元素进样系统的研制

设计开发了一套电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）高电离能元素进样系统.系统既保留了ICP-OES原有的检测功能，又利用超声波振动空化作用的物理方法与氢化反应的化学方法有机结合，有效增加单位体积内待测元素检测浓度，使高电离能元素的检测灵敏度在原有基础上提高3~5倍.系统的研制扩展了ICP-OES关于高电离能元素的检测功能.     

X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统的研制

易风化晶体离开母液就会风化并失去结晶溶剂,导致结构塌陷,由单晶变成粉末,从而无法完成测试.X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统利用晶体在低温下比较稳定的原理,通过维持选样与上样过程中的低温环境,使易风化晶体能够得以测试,从根本上解决了风化晶体的测试问题.系统的研制为易风化晶体化合物结构的测试提供有力的技术保障,是单晶衍射仪功能开发的重要技术创新.     

红外光谱仪模拟空间原位分析表征系统的研制

对现有傅里叶红外光谱仪进行拓展开发,空间模拟试验系统通过法兰与外置原位真空池及光谱仪相连接,实现样品推送机构的建立.分析单元与主真空室之间采用双闸板阀联用实现双向密封,可独立对材料表面进行快速原位分析.摩擦试样可通过样品精密传送和定位装置移动至分析单元进行表征,实现了模拟空间环境下摩擦表面的原位分析功能,将润滑材料的空间摩擦学行为与其表面及化学状态准确关联,避免环境对摩擦表面的污染,为设计新型空间润滑材料提供可靠的试验依据.