Crystallization process of Bi(Pb)-Sr-Ca-Cu-O glass

A crystallization study has been carried out for rapidly solidified Bi₂Pb_0.5Sr₂Ca₄Cu₅O_x glass. Glass transition temperature T _g, crystallized superconducting phases and microstructural changes were measured and analysed by differential thermal analysis (DTA), X-ray diffraction (XRD), and scanning electron microscopy (SEM). The crystallization mechanism of the three superconducting phases — (2201) 20 K phase, (2212) 80 K phase, and (2223) 110 K phase — has been discussed, and a time-temperature-transformation diagram for the glass has been constructed.     

Ga1-xInxAs/InAsyP1-y/InP异质结的MOCVD生长及表征

Ga1-xInxAs(x>0.53)材料是未来长距离低损耗光纤通信的理想光源材料和探测器材料之一.我们采用水平常压MOCVD系统,在InP衬底上成功地生长了Ga1-xInxAs(x>0.53)/InAsyP1-y/Inp异质结材料.其中InAs1-yPy为组份阶梯变化的多层结构.由样品的(400)面X光衍射结果测定了各层组份.由二次离子质谱(SIMS)得到了样品剖面组份变化结果,证明InAs1-yPy层组份为阶梯状变化的.通过对光致发光结果和X光衍射结果比较,可以看到,InAsyP1-y层通过位错和弹性畸变二种方式来释放或积累Ga1-xInxAs与InP间的失配应力,从而减少了Ga1-xInxAs中的失配位错.有效地改善了Ga1-xInxAs的质量.已获得了x高达0.94表面光亮的Ga1-xInxAs/InAs1-yPy/InP异质结材料.     

教学质量的时齐马尔可夫链评估法

本文研究了教学质量评估中的一种定量分析方法──时齐马尔可夫链评估法．阐明了这种方法的理论依据及其实施程序、并指出它较之其他教学质量评估法更显合理．     

Periodic solutions for a quasilinear non-autonomous second-order system

In this paper, a quasilinear second-order system with periodic boundary conditions is studied. By the least action principle and classical theorems of variational calculus, existence results of periodic solutions are obtained.     

Christoffel functions and mean convergence for Lagrange interpolation for exponential weights

For exponential weights, a necessary condition of weighted mean convergence for Lagrange interpolation is given.     

周期性分层介质高反射区范围的分析与估计

对于具有周期单元的分层介质材料高反射区的波长范围，提供一种简明的估计分析方法.基于Floquet定理，分析了有限周期单元分层介质的光子带隙特性，给出分层介质的高反射区波长范围.讨论了分层介质高反射区和周期单元禁带之间的关系.计算表明，高反射区和周期单元禁带的中心波长彼此一致.并且，随着分层介质周期单元数的增多，高反射区的深度和带宽就越接近于周期单元禁带的深度和宽度.最后，讨论周期分层介质的光子带隙特性与入射角及其与极化的变化关系. 关键词： 分层介质 带隙特性 周期单元 高反射区     

排列形状及阵列数目对纳米导线阵列场发射性能的影响

为了进一步研究纳米导线阵列的排列形状以及阵列数目对其场发射行为的影响，利用镜像悬浮球模型对正方形以及六边形排列的纳米导线阵列的场发射行为进行计算与模拟，近似的得到纳米导线阵列的场发射增强因子满足如下的变化趋势：β=h/ρ(1/1+W)+1/2(1/1+W)²+3,其中h为纳米导线的高度，ρ为纳米导线的半径，W是以R为自变量的函数，R为纳米导线阵列的间距.结果显示纳米导线阵列的排列形状对其场发射性能的影响较小，而阵列间距则是影响场发射性能的关键因素：当R<R₀时，场发射增强因子随着阵列间距的减小而急剧减小；当R>R₀时，场发射增强因子基本不变，其中R₀为导线阵列场发射的最佳间距.进一步研究表明改变纳米导线阵列的数目基本不会改变阵列的场发射性能随间距的变化趋势，但是随着阵列数目的增加，R₀会有一定程度的减小，场发射增强因子也会降低. 关键词： 纳米导线 场发射 增强因子 阵列数目     

Multiple positive solutions for one-dimensional p-Laplacian boundary value problems

By means of the Leggett-Williams fixed-point theorem, criteria are developed for the existence of at least three positive solutions to the one-dimensional p-Laplacian boundary value problem, ((y′))′ + g(t)f(t,y) = 0, y(0) - B₀(y′(0)) = 0, y(1) + B₁(y′(1)) = 0, where (v) |v|^p−2v, p > 1.