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61.
L. Knudsen U. Kreusler Giroud Hugo Schiff N. A. Rudolph Richard Schulze Ad. Blümcke N. A. Randolph Lothar Meyer Andreas Fock Victor Meyer Richard Anschütz und Aug Kekulé 《Fresenius' Journal of Analytical Chemistry》1886,25(1):382-394
Ohne Zusammenfassung 相似文献
62.
Writing a superlattice with light forces 总被引:1,自引:0,他引:1
Th. Schulze B. Brezger R. Mertens M. Pivk T. Pfau J. Mlynek 《Applied physics. B, Lasers and optics》2000,70(5):671-674
In atom lithography the conventional roles played by light and matter are reversed. Instead of using a solid mask to pattern
a light beam, a mask of light is used to pattern a beam of neutral atoms. In this paper we report the production of different
chromium dot arrays with quadratic symmetry. The lattice period depends on the relative polarization and the phase of the
two standing waves generating the light mask. A small angular misalignment of the laser beams breaks the high symmetry and
a chromium superlattice is written, that is a continuous periodic change between two different quadratic lattices. The structures
exhibit lines with a FWHM below 50 nm and clearly separated chromium dots with a FWHM below 70 nm.
Received: 30 September 1999 / Revised version: 14 February 2000 / Published online: 5 April 2000 相似文献
63.
A. Naoumidis H. Beske H. Holzbrecher H. Nickel und H. A. Schulze 《Fresenius' Journal of Analytical Chemistry》1987,329(2-3):278-284
Summary The characterization of oxide scales by their composition and structure is necessary in order to predict their protective behaviour for the high temperature alloys in various corrosive media. For this purpose information obtained by classical methods, such as metallography, X-ray diffraction and microprobe analysis can be supplemented by depth profiles determined by various spectroscopical methods.In this paper, HASTELLOY X und INCONEL 617 were oxidized for relatively short times in two different atmospheres. Depth profiles were determined by GDOS (Glow Discharge Optical Spectroscopy), SNMS (Secondary Neutral Mass Spectrometry) and SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry).The measured profiles were compared with the results of non-destructive X-ray diffraction analysis to characterize the scales and the oxide-metal interface. 相似文献
64.
65.
E. Schulze J. Barbieri und G. Fassbender 《Fresenius' Journal of Analytical Chemistry》1881,20(1):588-589
Ohne Zusammenfassung 相似文献
66.
Fr. Schulze 《Fresenius' Journal of Analytical Chemistry》1868,7(1):96-97
Ohne Zusammenfassung 相似文献
67.
E. Schulze 《Fresenius' Journal of Analytical Chemistry》1883,22(1):618
Ohne Zusammenfassung 相似文献
68.
69.
70.