CaAl_2Si_2O_8∶Eu,Ce,Tb单基三元掺杂荧光材料的制备及其光谱学特征研究

采用高温固相法制备了CaAl_2Si_2O_8∶Eu,Ce,Tb单基三元掺杂的荧光材料。使用X射线衍射仪(XRD)、拉曼光谱仪(Raman)和荧光分光光度计(PL)等测试手段对该荧光材料进行表征。采用XRD表征了样品的物相组成,测试结果表明稀土离子Eu~(2+)置换Ca~(2+)并没有引起CaAl_2Si_2O_8基质晶格结构的变化。拉曼光谱分析证实了样品中硅氧四面体和铝氧四面体的存在,表明了Eu~(2+)替代Ca~(2+)的数量与晶体形态畸变程度有关,Eu~(2+)进入基质晶格的数量影响着硅(铝)氧四面体的数量。PL测试结果表明样品在325nm光激发下,其发射峰主要表现为426nm(蓝光区)的强宽带发射峰和541nm(绿光区)的弱发射峰,其中426nm处的宽带发射峰可通过高斯拟合成三个位于393,419和474nm的拟合峰;对比分析荧光性能以及同等合成条件下样品荧光强度的不同,确定了该荧光材料在三掺Eu∶Ce∶Tb的摩尔比为1∶1∶1.5时所发射荧光最强。CIE色度图坐标显示三种掺杂比例下制备的荧光材料均发射蓝色荧光,光显色性好,色温低,是一种适合作为紫外-近紫外激发的LED用蓝色荧光材料。     

可变温声速测量仪的设计制作

本文介绍一种用简易低频数字信号发生器做信号源,用晶体管PN结做温度传感器,用电压值显示相关测量位置声波振幅大小,频率、温度均可调可控的可闻声声速测量装置。该装置可在多种不同频率下测量声速,测量时不需要示波器,运行成本低,抗干扰能力强、噪音小,测量结果准确。     

叶酸-O-羧甲基壳聚糖的制备与光谱分析

壳聚糖经羧甲基化制备出的O-羧甲基壳聚糖,采用离子交联法与叶酸复合制备出叶酸-O-羧甲基壳聚糖复合物。通过红外光谱、X射线衍射光谱、扫描电镜等测试手段进行表征,探讨了叶酸、O-羧甲基壳聚糖的质量比对复合物结构及性能的影响,利用断尾取血法探究复合物的凝血、止血性能。结果显示,叶酸-O-羧甲基壳聚糖凝血、止血效果显著。当叶酸与O-羧甲基壳聚糖的质量比为2∶5时,二者基团的作用力最强,复合物结构最稳定,凝血、止血效果最好。     

塞曼效应与边缘离子温度的光谱测量

通过理论推导得到了谱线实际宽度和塞曼展宽之间的关系。在磁感应强度分别为1、2、2．5和3T的情况下，用数值方法进行了求解，用得到的结果拟合出了校正因子随离子温度变化的经验公式和拟合曲线，结果表明：离子温度较低时，塞曼效应对谱线宽度的影响很大，温度较高时，塞曼效应对谱线宽度的影响可以忽略。     

Eu2O3纳米晶谱带特征及光伏性质的研究

利用表面光电压谱技术对不同粒径的Eu2O3纳米晶进行光吸收特性的研究，并结合紫外－可见反射吸收光谱对其谱带进行解析，实验发现，随着样品粒径的变小，部分f→f跃迁的吸收带明显增加强并发生红移；在300－500nm区间有一个宽吸收边带，此带可归属于O2p→Eu4f的电荷转移跃迁。     

脂松香、石炭酸松香树脂和马林酸松香树脂的红外光谱剖析及鉴别

本文对脂松香、石炭酸松香树脂和马林酸松香树脂的红外光谱剖析及鉴别，方法快速，简便，准确。     

EACVD中用氢原子谱线测定电子平均能量

采用蒙特卡罗方法，对EACVD中氢原子的发射过程进行了模拟。给出了由氢原子谱线测定电子平均能量的方法，结果对EACVD生长金刚石薄膜过程中实时监测电子平均能量，进而可以有效地控制工艺条件，生长出高质量的金刚石薄膜具有重要意义。     

利用等厚干涉条纹测量微光的调制传递函数MTF

通过对微光的调制传递函数 (MTF)的讨论 ,结合传统的“分辨率板法” ,提出了一种新的测量微光的MTF的方法。该方法直接从MTF的物理含义出发 ,利用迈克尔逊干涉仪产生一系列空间频率的等厚干涉条纹来模拟分辨率板的作用 ,在计算机的控制下 ,自动测量出连续的MTF曲线。给出的实验光路和实验结果表明 ,利用干涉条纹测量微光的MTF是一种可行的简便方法 ,在计算机的控制下 ,可快速完成夜视仪的传递函数测量     

非晶态金属Al中微团簇多面体结构及其演变规律的模拟研究

对50 000个金属Al原子从液态急冷形成非晶态结构的过程进行了分子动力学模拟研究.采用原子键型和原子团簇类型指数法,发现在其微观结构的转变过程中,与不断增加的1551键型密切相关的二十面体及其缺陷结构的形成起了非常突出的作用.通过各种键型原子团簇的计算,获得团簇多面体结构的分布数据.在可视化的显示下,得到一幅十分清晰的关于团簇多面体结构的特征及其演变的图景.建立了一种简单而有效的团簇多面体结构研究方法.同时也对模拟计算结果的微观机理给出了相应的讨论,这对于深入理解非晶态结构的形成机制及其微观过程,将有重     

荧光衰减曲线的一种多指数拟合方法

在荧光衰减测量中，总要遇到荧光衰减解卷积，进行非线性参数拟合问题。目前已有的非线性求极小值方法，都对参数估计值非常敏感，而且计算程序运行时间较长。我们建立了一种基于经典的步长加速法实现非线性最小二乘拟合，进行荧光衰减解卷积的方法，按程序给出参数初值，即能解卷积。