波长色散X射线荧光光谱仪的检定

介绍波长色散X射线荧光光谱仪的检定方法。以ZSX PrimusⅡ型波长色散X射线荧光光谱仪为实例,对仪器性能测试和计量检定流程进行了详细说明。波长色散X射线荧光光谱仪的总不确定度分别由精密度测量不确定度,稳定性测量不确定度,X射线计数率测量不确定度,检测器能量分辨率不确定度,仪器计数线性的不确定度组成。对仪器的各不确定度分量进行评定。在置信水平95%,扩展因子为k=2的条件下,计算得此波长色散X射线荧光光谱仪的标准扩展不确定度为1.45 kcps。该方法为检定该类仪器和计量标准的考核提供了参考。     

X射线荧光光谱法测定哈氏C-276合金中10种元素

采用X射线荧光光谱法,可实现同时测定C-276合金中Si,Mn,P,Cr,Fe,Mo,W,V,Co,Cu,方法简便快速,便于生产过程控制和产品分析。采用成分相近的17种标准物质建立工作曲线,优化了测量条件并进行谱线重叠校正和元素间的吸收和增强效应的校正,各元素含量与测量强度均能呈现良好的线性关系。用于C-276合金中各元素的测定,具有良好的精密度,测定值与分光光度法、容量法、重量法等标准方法测定结果显示较好的一致性。为建立X射线荧光光谱法测定镍基合金成分提供了思路,为研究X射线荧光光谱分析镍基合金的干扰提供事实依据。     

X射线荧光光谱分析

本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用.     

古代铜器X射线荧光分析中基本参数法及蒙特卡罗法的应用

本文介绍在X射线荧光分析中,用基本参数法和蒙特卡罗法(Monte Carlo)进行古文物样品的分析。分析中我们用蒙特卡罗法计算了样品对入射线的散射校正因子以及探测器对特征X射线的相对探测效率。蒙特卡罗法是模拟随机过程的一种统计试验方法,其统计过程是通过随机事件的概率分布函数的随机抽样来实现。     

X射线荧光光谱分析的新进展

本文对X射线荧光光谱分析的光谱仪器、数学校正、计算机的应用、状态分析等最新进展进行了评述,并提出X射线荧光光谱仪的今后发展,附58篇参考文献。     

X射线荧光光谱分析

评述了我国在2000年7月-2002年6月间X射线荧光光谱，包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用，内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。     

SDD探测X射线中BP网络全谱定量分析技术研究

针对能量色散X荧光分析技术中面临的能谱复杂、标样难于制备、基体效应难于校正等问题,建立了基于BP神经网络的特征X射线全谱分析模型,对SDD探测器测量获得的Ti-V-Fe伪三元系样品特征X射线荧光谱进行定量分析,对含量较高的Fe元素的分析误差范围在0.06%～2.5%内,含量较低的Ti和V元素分析误差范围在0.33%～8.4%内,基本克服了由于谱峰重叠和基体效应对解谱带来的复杂性。     

在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份

引言在X射线荧光分析中,基本参数法是校正元素间吸收增强效应的一种数学方法。它是根据样品受激发射荧光X射线的原理在测定了样品中各元素的特征X射线强度以后,利用已知的物理参数,如质量吸收系数,荧光产额,X射线特征谱线的相对强度,入射辐射能谱,几何因子,探测效率等,在给定的初值条件下通过理论计算,用迭代逐步逼近法直接求得样品中各元素的含量。     

EDXRF方法在测量含水Fe样中Fe含量的应用

介绍了能量色散X荧光分析方法在含水Fe样品测量中的应用。用ANTG 2000型海底X荧光探测系统对含Fe为10%～60%的Fe样进行测量,建立水分对Fe元素特征Kα射线影响的校正模型。结果表明,通过该模型校正,对含饱和水情况下Fe样品的分析相对误差小于4%,具有良好的分析效果。     

Application of EDXRF Method in Measurement of Fe Content in Aqueous Fe Sample

介绍了能量色散X荧光分析方法在含水Fe样品测量中的应用.用ANTG -2000型海底X荧光探测系统对含Fe为10％～60％的Fe样进行测量,建立水分对Fe元素特征K α射线影响的校正模型.结果表明,通过该模型校正,对含饱和水情况下Fe样品的分析相对误差小于4％,具有良好的分析效果.     

X射线荧光光谱无标样分析在轻合金中的应用

基于X射线荧光光谱仪,运用其无标样分析软件以及元素灵敏度系数校正,分析了镁合金、铝合金样品的元素组成及其含量。结果表明,X射线荧光光谱仪无标样定量分析镁合金、铝合金,其测量结果具有非常高的可靠性和准确度。通过对元素灵敏度系数的校正,可以进一步提高合金的测量精度。     

X射线荧光光谱法测定不锈钢中多种元素

建立了波长色散X射线荧光光谱(WDXRF)法测定不锈钢中Al、Co、Cu、Mn、Mo、Ni、P、S、Si、Ti、Cr、As、Pb、W和Sn 15种元素的分析方法。研究了仪器的测量条件、干扰校正等因素。采用固定理论α影响系数法来校正基体效应,建立了校准曲线。15种元素的方法检出限为0.8~15.0μg/g。比对试验和精密度试验表明,该方法分析不锈钢中的多个元素其测定值与标样认定值相符,实验室内精密度(RSD,n=11)在0~9.57%之间。该方法简便、快速,可用于不锈钢中上述15种元素的测定。     

经验系数法在赤泥X射线荧光光谱分析中的应用

在国外,X射线荧光光谱法在铝工业中的应用已有20年的历史。不少作者先后报导过铝土矿,赤泥的X射线荧光光谱分析法。在我国铝工业中则刚开始应用这种方法。氧化铝生产流程中的废渣俗称赤泥,其主要成分是铝、钠、硅、铁、钙和钛的氧化物。掌握赤泥成分的变化是氧化铝生产及工艺研究的重要一环。为此我们研究了赤泥的X射线荧光光谱分析方法,探讨了Plesch选择判据在确定基体校正元素中的应用。实验证明方法可靠,准确度和精密度跟化学法相当,具有分析速度快的优点。     

X-射线荧光光谱分析技术的发展

归纳了X-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、仪器检测性能的提高、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X-射线荧光光谱技术的进展,还就能量色散X-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的论文发表情况进行了总结,对近年来X-射线荧光光谱仪的发展趋势———手持式、偏振、微束分析等进行了评述,并对其技术的发展方向进行了展望。     

X射线荧光光谱分析

作为《分析试验室》定期评述“X射线荧光光谱分析”系列评论第八篇,本文收集国内学者在1998年7月至2000年6月期间公开发表在国内外期刊和国际会议文集上的129篇论文,并对此期间对我国X射线荧光光谱分析的概况、发展和国际上的地位进行了讲述,内容包括仪器及维修、基体校正、数据处理方法、谱分析方法的研究、标样及样品制备、全反射X射线荧光光谱、同步辐射光源X射线荧光光谱、粒子激发X射线发射、X射线荧光光谱分析方法研究及其应用。     

光谱技术在纺织品检测中的应用（一）--X荧光能谱仪在纺织品重金属检测中的应用

近年来,世界各国对纺织品中的有害物质含量的控制已越来越严格。本文对纺织品中重金属检测方法的现状进行了概括,进一步介绍了X荧光能谱法在纺织品重金属检测上的应用。采用X荧光能谱法检测布样中的重金属和采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）检测结果基本一致。结果表明：X荧光能谱法是一种有效的纺织品中重金属检测方法,也为纺织品中重金属的检测提供了一种快速、简便、无损的初筛方法。     

磷矿石的 X 射线荧光光谱分析

本文研究了用X射线荧光光谱分析磷矿石的方法。磷矿石样品和四硼酸锂的混合物放在Pt-Au坩埚中熔融,制成玻璃圆片。同时加入氧化剂(硝酸铵)保护Pt-Au坩埚免遭损坏。利用De Jongh公式校正元素之间的影响,并由NBSGSC基本参数法程序计算了磷矿石的理论Alpha系数。样品分析结果是准确的,分析效率大大高于湿法分析,这表明,X射线荧光光谱法可以取代湿法分析磷矿石。     

专利

<正>一种X射线荧光分析装置公开号:CN201600338U公开日:2010.10.06申请人:韩晓朋摘要本实用新型专利公开了一种X射线荧光分析装置,包括承载待测样品的基台、发出原级X射线轰击待测样品的X射线枪以及接收X荧光的探测器,探测器上依次连接有前置放大器、DPU处理器和计算机,所述的DPU处理器包括顺序连接的放大整形模块、ADC转换模块、数字脉冲整形模块、     

X射线荧光光谱法测定奶粉中的营养元素

采用粉末压片制样,波长色散X射线荧光光谱法测定奶粉中的氮、钠、镁、磷、氯、钾、钙。从仪器的X射线光管铍窗厚度、电流强度、测量时间和样品制样压力等方面优化了N元素的测定参数。选择不同种类的奶粉,由标准方法定值,采用标样建立校准曲线,理论α影响系数法校正基体效应。研究发现,铍窗厚度是制约N元素测定的主要因素,而电流强度的影响较小;手工研磨可较好地实现样品的均质处理;X射线辐照可以引起奶粉褐变,形成类似美拉德反应的外观和气味,并严重破坏内部蛋白质,P,Cl,K,Ca等元素测量结果均发生有规律的变化。该方法对N元素的检出限和相对标准偏差(RSD,n=9)分别为900 mg/kg和2.9%,其它元素的检出限和RSD分别小于10 mg/kg和3.0%,测定结果与标准方法一致。     

八十年代的X射线光谱分析

X射线荧光光谱分析已是一种精度可达二千分之一的先进分析技术。要达到这样的精度,主要是要解决取样和试样制备方面的问题。尽管如此,对于含量变化很大的试样仍可获得非常精确的结果;试样经熔融后,用一条校准曲线可以分析范围广泛的各种氧化物。近年来在分析装置方面所取得的一系列进展将有助于提高解决某些特殊分析问题的能力。将会极大地提高轻元素分析性能的一系列侧窗管中,首屈一指的是侧窗钪靶管;多层技术的发展表明,为改善对轻元素和超轻元素的色散能力所进行的努力已大有希望;探测技术的改进主要是依靠对不同元素选用不同的探测器以及使用象气体闪烁正比探测器这样的高分辨率气体探测器来实现。在数据处理方面,由于采用理论α系数、联机基本参数计算或是两者相结合的基本参数法,也将表现出明显地改进。另外,可以自动地处理试样测量结果并把X射线荧光分析结果与来自其它分析方法的结果结合起来的实验室管理方法也会得到愈加广泛的应用。近几年来,能量色散光谱法在仪器方面(硬件方面)没有大的进展。分辨率约为400电子伏特、在室温下就可以使用的HgI_2探测器用于区分或鉴别试样可能是非常有效的办法。在能量色散这一领域中,已研究出一些特别有效的软件包,其中包括无标准试样分析用的软件包和涂层分析用的软件包。