ECRH过程中电子速率分布的变化和加热效果分析

本实验利用两台高性能的硅漂移探测器（SDD）、高速波形A／D和虚拟多道分析器组成探测系统，可获得高时间分辨的软X射线辐射能谱，可以非常直观地观察电子回旋共振加热（ECRH）的效果以及电子速率分布的改变。由于SDD探测器的光峰计数／本底计数比率≥400-3000，因此X射线在探测器中仅有光-空穴和电子对效。     

HL-1M装置电子回旋加热过程中的超热电子测量

在HL-1M托卡马克上进行的电子圆旋共振加热实验表明，在低等离子体密度加热过程中。产生大量的超热电子。由Si(Li)和碘化汞(HgI2)半导体探测器阵列测量到的软X射线和中能(15～150keV)X射线能谱，得到超热电子的温度在30～60keV范围内。中能X射线辐射强度测量结果证实，等离子体对电子圆麓波的吸收是定域性的。在超热电子对MHD的相互作用中，主要的m／n=2/1模没有增强或抑制现象。     

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在HL-2A装置的电子回旋辐射(ECE)外差测量中,为实现电子温度剖面分布的绝对测量,采用双温度法和磁场扫描法分别对扫频和多道ECE测量系统进行了标定,获得了各道间的相对标定系数,并利用等离子体中心道Thomson散射测量的电子温度对ECE测量系统进行了绝对标定。结果表明,这两种方法都能实现可靠的标定,并对两者的优劣进行了比较和讨论。     

光探测与器件

为了实现软X射线波段光源相对光谱分布的测量,引进了一种利用新型软X射线波段传递标准探测器一Si光电二极管对软X射线探测器进行标定。标定了软X射线波段光谱测量实验中常用的探测器一通道电子倍增器在放大电压为1.3 kV时的量子效率,并对实验结果进行了分析,得出在8一3Onm波     

CT-6B托卡马克装置中软X射线辐射及扰动

软X射线诊断是研究托卡马克等离子体不稳定性的重要手段。本文给出用Au(Si)面垒探测器阵列测量CT-6B托卡马克等离子体软X射线的结果,以及各种等离子体不稳定性时的软X射线辐射空间分布特性。 关键词：     

GEM探测器与X射线成像实验

使用2个GEM探测器系统,分别用作增益测量和位置分辨测量.用GEM探测器测量铜靶X射线能谱,能量分辨率为21.5%.8keV的X射线入射双层GEM探测器,实验测量x方向位置分辨为64μm,y方向位置分辨为68μm.将科研成果经过精炼、核心提取,为核与粒子物理学科的本科生开设GEM探测器和X射线成像实验,使学生对高能粒子探测技术、数据获取和处理等有整体的理解.     

利用软X射线锯齿振荡研究托卡马克等离子体的热输运

用Au(Si)面垒探测器阵列测定了CT-6B托卡马克等离子体的软X射线辐射及其涨落。本文给出了内破裂期间等离子体中心区的软X射线锯齿振荡的经验定标律,利用电子温度的锯齿振荡研究了内破裂期间中心区的电子加热率,电子能量平衡,电子能量约束时间,电流密度分布和电子温度等电子热输运结果。 关键词：     

用红宝石激光的汤姆逊散射测量θ-收缩等离子体的电子温度

几万度到几百万度范围的电子温度的测量在高温气体、空间物理、模拟核爆炸筹高温领域中是很重要的研究目的.尤其在受控热核反应与高漫等离子体物理的研究中,电子温度是实现受控“点火”的一个重要诊断参数.利用高漫等离子体自身幅射的X射线,可以得到一些有用的结果.但是,由于它不能空间分辨,实验误差很大.利用激光被等寓子体电子的汤姆逊散射,能够得到时间分辨和空间分辨的实验结果,因而激光散射实验已经成为测量等离子体电子温度的可靠诊断手段之一.也同样可应用于其它领域电子温度的测量. 根据激光散射的基本原理,不仅能够测量等离子体的…     

ITER产氚试验包层模块中子诊断系统的初步设计

1封装薄箔活化片分析系统 此种方法己广泛用于裂变堆的中子强度测量，现己用于几乎所有大型托卡马克的中子产额测量，利用中子辐照某些高纯材料薄箔（样品），被中子活化的样品辐射某种能量的γ射线，经高分辨能力的半导体探测器[如HP—Ge或Si（Li）]测量，得到辐照到样品上的中子的中子数。     

15～600 keV脉冲硬X射线能谱测量

介绍了基于吸收法的脉冲硬X射线能谱测量的基本原理及设计思路,完成了探测器及吸收片的选型,设计了射线准直系统,研究了散射对测量的影响,以12路PIN探测器阵列及铜、铝吸收片为测量核心部件研制了脉冲硬X射线能谱测量系统。实验测量了真空环境下"闪光二号"加速器串级二极管产生的脉冲硬X射线强度,获得了不同衰减程度的实验波形,通过解谱获得了脉冲硬X射线的能谱,光子最高能量约600 keV,平均能量约89.1 keV,与理论计算的结果比较符合。