氢气放电源打靶的新谱线

用氢气放电产生的射线打靶，除测到了靶材料的特征X射线外，还测到了不同于特征X射线的系列X射线新谱峰。实验中打了51种材料的靶，打每种靶时都有相应的新谱峰出现。实验中把氢气放电产生的射线视为一种射线源，开展了氢气放电源和TiT源打靶的对比实验，实验装置见图1。     

杂质元素特征X射线对氢气放电源打靶新谱线的影响

 在氢气放电源打靶的实验中,测到了系列能量恒定不变的低能X射线新谱线,这些新谱线的能量分别为(1.70±0.10) keV, (2.25±0.07) keV,(2.56±0.08) keV,(3.25±0.10) keV和（3.62±0.11） keV,与Si,Ta,S,Cl,K和Ca等元素的特征X射线能量相近,但靶中所含的杂质或来自放电室的杂质元素可能会产生这些能量的X射线谱峰,证实新谱线是否由这些元素的特征X射线干扰所致显得尤为重要。分析了本实验系统中各种杂质的可能来源,论证了放电室端杂质对新谱线的影响,及靶材料中体杂质和面杂质对新谱线的影响;用X射线光电子能谱仪对靶做了表面分析。研究结果表明：杂质元素的特征X射线不会对氢气放电源打靶产生的新谱线有影响。这些新谱线的性质有待进一步的实验研究。     

杂质元素特征X射线对氢气放电源打靶新谱线的影响

在氢气放电源打靶的实验中,测到了系列能量恒定不变的低能X射线新谱线,这些新谱线的能量分别为(1.70±0.10) keV, (2.25±0.07) keV,(2.56±0.08) keV,(3.25±0.10) keV和（3.62±0.11） keV,与Si,Ta,S,Cl,K和Ca等元素的特征X射线能量相近,但靶中所含的杂质或来自放电室的杂质元素可能会产生这些能量的X射线谱峰,证实新谱线是否由这些元素的特征X射线干扰所致显得尤为重要。分析了本实验系统中各种杂质的可能来源,论证了放电室端杂质对新谱线的影响,及靶材料中体杂质和面杂质对新谱线的影响;用X射线光电子能谱仪对靶做了表面分析。研究结果表明：杂质元素的特征X射线不会对氢气放电源打靶产生的新谱线有影响。这些新谱线的性质有待进一步的实验研究。     

高压X光机发射谱的测量与研究

本文描述了测量高压Ｘ光机发射谱的技术,并成功地测量了１４０ｋＶ高压Ｘ光机的发射谱。研究了滤波片对Ｘ光机发射谱特性的影响,在此基础上提出了可根据不同的测试目的和条件,用不同的滤波片可形成高强度的准单能,双能等Ｘ光激发源及其可能的应用领域。     

提高高压X光机激发的XRF谱测量灵敏度的一种方法

本文通过分析高压Ｘ光机激发的Ｘ射线荧光（ＸＲＦ）在线测量系统中的灵敏度低等问题的原因，提出了用准直技术提高灵敏度的方法，并设计，加工了一个内径１．５ｃｍ，长７．５ｃｍ的准直器，实验结果满意。在此基础上，对进一步改进该在线测量系统的性能进行了讨论。     

微束斑X射线源及X射线光学元件

高质量的X射线源,尤其高亮度的微纳束斑X射线源是现代X射线光学高清晰成像最为关键的部件之一,在工业无损探伤、生命科学、材料科学等科学研究和实际应用中具有重要的意义。简单介绍了微束斑X射线源的产生方法及发展历史,并对微束X射线光学涉及到的聚焦X射线光学元件（如X射线掠入射反射镜、布拉格法反射镜、多层膜反射镜、多层膜光栅、X射线波带片、毛细管聚焦透镜和复合折射透镜等）的主要特点作了简要的系统介绍。最后展望了微细束X射线在微纳检测与分析等方面的应用前景。     

一种铝靶软X射线源的研究

研制了一种铝靶软X射线源,这种X射线源对轻介质、薄样品的成像更清晰、分辨能力更强。利用多层滤片和生物样品对铝靶软X射线源进行了性能检测,实验显示铝靶软X射线源对轻介质和生物成像具有较高的吸收衬度,成像效果优于其他靶材X射线源,并通过改变工作电压可以显著调节谱线中软X射线的比例。这种铝靶X射线源适合作为实验室便携式软X射线光源。     

共振光泵X射线激光的抽运谱线和吸收谱线波长匹配实验

用octadecyl hydrogen maleate(OHM)晶体谱仪进行了4.5nm附近如下三组共振光泵X射线激光的抽运谱线和吸收谱线对波长匹配实验研究:SiXⅡ3d—2p,4.4021nm,MgX2s—4p,4.4050nm;CuXIX4f—3d,4.7329nm,MgX2p—4d,4.7310nm;和AIXI3p—2s,4.8338nm,MgIX2s²—2s4p,4.8340nm.其中第二组线对据我们所知尚未见报道.比较并讨论了这三组线对的优缺点. 关键词：     

几类源打“新靶”和“旧靶”的对比实验

 根据氢气放电源、X光机X射线源和TiT源打“新靶”和“旧靶”的对比实验结果，证明了在氢气放电过程中产生了一种未知粒子，新谱线正是射线源轰击这种储存在“旧靶”中的未知粒子产生的。以此为依据得到如下推论：探测到的新谱线反映了未知粒子的能级特性，是未知粒子的能级谱线，所以这些新谱线是未知粒子存在的标志。     

光谱匹配在X光机设计中的应用

将X射线成像技术和微光成像技术相结合,设计了组合新型的X射线影像增强系统.为了得到满意的成像性能,在设计前研究了Gd2O2S∶Tb和CaWO4两种X射线屏和Super S251和Super S252两种光电阴极之间的四种屏－光电阴极组合的光谱匹配特征,对应的光谱匹配系数值分别为0.644,0.761,0.369,0.571.以光谱匹配曲线及光谱匹配系数计算数据为理论依据,最终选择Gd2O2S∶Tb X射线屏和Super S252光电阴极的组合作为该新型X射线影像增强系统的主要器件,得到了成像性能令人满意的X光机.     

氢气放电源打靶的较完整新谱系实验测量

 为了能够实现明确和清晰地同时测出氢气放电源打靶的较完整新谱系,使用氢气放电中的电子和X射线等直接打靶,在衍射角和测量角均为45°时,测量氢气放电源打靶的较完整新谱系。实验同时测到了3组6条氢气放电源打靶的新谱系,它们是：（2.25±0.07）和（2.56±0.08） keV;（3.25±0.10）和（3.62±0.11） keV;（4.42±0.13）和（4.79±0.15） keV。这6条新谱线表征了未知粒子的能级特性,是未知粒子存在的标志。未知粒子在靶中能储存一年以上,测得的未知粒子能级谱线能量为keV量级,氢气放电源中粒子为已知粒子,据此可以认为未知粒子是一种新原子态氢原子。     

外粒子源注入下气体放电过程的模拟研究

利用Geant4程序建立外源注入式、低气压气体开关物理模型,通过模拟计算电子增益与极板间电场强度、电子增益与极板间隙距离的函数关系验证了模型的正确性。计算了气体种类、气体压强对电子增益的影响,分析得到形成自持放电所需最小入射电子数,计算结果表明：在相同的气压及电场条件下,氮气的电子增益远大于氦气,这与氦气的高电离能性质相吻合; 随气压增大,电子增益呈非线性增长; 为实现自持放电,外源注入电子数面密度为1×10⁵~2×10⁵ /cm²。     

Glow discharge in helium at atmospheric pressure as a source of spectrum excitation

Self-maintained glow discharge at atmospheric pressure in a helium flow is used as an excitation source of spectra for analysis of the metals Na, Ca, Pb, Cd, and Zn in aqueous solutions of their salts. The intensities of the analytical lines of these metals are obtained as a function of the concentration, and the detection limits for each element are determined. Deceased. Institute of Molecular and Atomic Physics, Academy of Sciences of Belarus, 70, F. Skorina Ave., Misnk, 220072, Belarus. Translated from Zhurnal Prikladnoi Spektroskopii, Vol. 64, No. 6, pp. 711–715, November–December, 1997.     

低气压条件下氢气潘宁放电的模拟分析

为更好地理解低气压、弱电离条件下潘宁离子源放电过程中离子和电子的动力学行为, 通过建立二维轴对称模型, 采用粒子模拟与蒙特卡罗相结合(PIC/MCC)的方法, 考虑了电子与氢气之间的弹性碰撞、激发、电离以及氢原子、离子之间的弹性碰撞和电荷交换等过程, 对微型氢气潘宁离子源放电和引出过程进行了数值研究. 考察了磁场位形、壁面二次电子发射系数、引出电压和充气压力对放电过程的影响, 得到了实验中难以诊断得到的放电腔内电子与离子数密度分布, 阳极电流、引出极离子电流、单原子氢离子比例和双原子氢离子比例等宏观参数与实验结果相一致. 通过仿真使得对氢气潘宁放电机制的研究从定性过渡到定量, 这对于潘宁离子源的设计和改进具有重要意义. 关键词： 潘宁放电 氢气 粒子模拟 蒙特卡罗     

等离子体X射线吸收谱及发射谱研究

 报道计算高温高密等离子体吸收谱和发射谱（光学薄）的理论方法；该方法基于相对论原子理论，可以计算任何单元素以及多元素等离子体的谱分辨X射线吸收谱和发射谱（光学薄）；应用了量子亏损理论，可以减少计算量。利用该方法计算金等离子体LTE吸收谱，计算结果与实验符合良好。本文还对金等离子体LTE的光学薄发射谱进行了研究, 这将有利于对实验进行进一步的诊断分析。该理论计算方法还可提供等离子体内各电离度能级布居等重要物理参数。因此经“标准实验”检验的该理论计算方法将是提供ICF“精密”物理辐射参数的重要基础。     

依据光谱研究闪电放电通道的半径及能量传输特性

利用无狭缝摄谱仪获得的云对地闪电回击过程的光谱, 结合同步辐射电场变化资料, 计算了闪电放电通道的温度、线电荷密度、通道的初始半径和扩张后的半径以及回击通道单位长度储存的能量. 结果与文献报道的其他方法得到的结果符合很好. 这些物理量的相关性分析表明: 电弧通道的初始半径主要取决于回击电流的持续时间; 通道温度越高, 半径越大; 通道初始半径、单位长度储存的能量与光谱总强度正相关, 通道单位长度储存的能量与初始半径的平方成正比. 关键词： 闪电放电通道 半径 能量 光谱总强度     

The effects of the lithium intercalation on the X-ray photoelectron spectra of NiPS3

Summary A detailed XPS study of the lithium-intercalated NiPS₃ specimens was performed at the 2p, 3p, 3s core levels of the nickel atoms and at the 2p core levels of the sulphur and phosphorous atoms for various lithium contents. Comparison of the Ni 2p, 3p and 3s XPS spectra corresponding to NiPS₃ and Li _x NiPS₃ systems shows some evident trends. In particular, a shift of the Ni main line towards lower binding energies, a decrease in the intensity of the Ni 3p, 2p satellite structures and a change in the full width at half maximum of the Ni 3s band with lithium content are observed. All these findings suggest a change in the 3d electron configuration for high lithium concentrations. As regards the cluster (P₂S₆)⁴⁻, with the addition of lithium, a P 2p main line shift towards higher binding energies is noted, while the S 2p peak shifts towards lower binding energies. These results are discussed in comparison with previous physical measurements concerning the nickel reduction process and the related electronic modifications. The authors of this paper have agreed to not receive the proofs for correction.     

基于放射性气体源体积的虚拟源刻度技术

大气中放射性气体氙同位素的活度浓度值是判断核裂变反应的关键数据, 长期以来其准确测量一直是个难题. 针对该问题, 本文提出和定义了虚拟点源的概念, 并使用LabSOCS软件模拟了不同尺寸气体体源和不同高度点源的探测效率, 根据计算的数据建立了气体源体积和虚拟点源位置的函数关系. 理论上证实了气体源体积和虚拟点位置有良好的线性关系, 在理论上为解决虚拟源刻度技术提供了新的途径.