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用于符合测量的多通道符合计数器 总被引:2,自引:0,他引:2
符合测量在量子光学实验中有着重要的应用,它可以用于测量纠缠光子对和单光子干涉等实验。在使用过程中,经常用到三通道或更多通道的符合测量,这种情况下简单的门电路无法满足使用要求,而现场可编程门阵列(FPGA)为实现低成本、小体积的多通道符合计数系统提供了解决方案。同时,基于FPGA的多通道符合计数系统还可以提供ns精度的符合分辨时间,避免本底光噪声对探测器的影响,从而有效抑制偶然符合,进一步提高了多通道符合计数系统的性能。本文介绍了基于FPGA的多通道符合计数器,并实验测量了单光子探测器信号的符合计数。 相似文献
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用低本底反康谱仪(HpGe–NaI)和HpGe–HpGe的三参数符合γ–γ–T系统,对72Ga的衰变γ单谱、符合谱进行了研究,实验共获得2.3×107个符合事件.根据实验结果建立了含有26个能级、87条γ射线的72Ga的衰变能级纲图,其中包含首次测到7条γ射线225.92、826.97、1349.71、1475.32、1667.91、2105.28、2247.39keV和4个能级3248.01、3396.27、3806.10、3864.56keVS并为2939.83keV能级和112.59、937.97、2402.25、2939.95keV4条γ射线的存在提供了证据;实验没有发现113.5、1155.7、1192.4keVγ射线和能级3307.1keV存在的证据。并把317.72keVγ射线的跃迁,由原来的能级3757.26keV跃迁到3439.51keV能级,改为3565.85keV到3248.01keV能级跃迁. 相似文献
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自旋极化电子束的获得,为自旋极化电子与原子碰撞符合实验研究奠定了基础,通过符合实验,已经能够获得电子原子碰撞的更多的信息,而且能够探测到碰撞过程中的自旋相关效应,并为分子结构及固体表面的研究提供了一种新的研究手段. 相似文献
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本文进行了自发参量下转换(SPDC)产生795nm关联光子对的实验研究。选择Ⅱ类PPKTP晶体作为非线性介质,用倍频获得的397.5nm紫光作为泵浦光。在实验上首先通过符合计数测量了紫光单次穿过PPKTP晶体时SPDC过程产生的光子对亮度,当泵浦光功率为5mW时,测得符合计数为53 150/s。然后将下转换过程放入光学谐振腔中,对下转换光子的线宽进行压窄。实验上测得下转换光子对的关联时间为14.6ns,对应线宽约为15MHz。本文为纠缠光子对在Rb原子系综中的存储提供了实验基础。 相似文献
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利用自发参量下转换过程产生的频率纠缠光源在量子信息处理及相关领域中 具有十分重要的应用. 本文利用中心波长为792 nm, 脉冲宽度小于20 fs的脉冲激光源抽运满足II类准相位 匹配条件的周期极化磷酸氧钛钾晶体, 实验产生了偏振相互正交的频率一致纠缠光子对. 基于Hong-Ou-Mandel干涉仪的二阶量子符合干涉装置, 测量到该纠缠双光子对的干涉可见度约为42%, 表明其频率不可分特性较理想频率一致纠缠光源大大降低. 通过理论分析给出, 由于超短脉冲光源对应的宽频谱带宽影响, 相位匹配函数中的高阶色散项不再忽略, 从而导致纠缠光子对的频率不可分性减弱. 进一步利用实验参数给出的数值模拟结果与实验结果符合, 证实了脉冲抽运源带宽对频率一致纠缠光源的量子不可分特性的影响.
关键词:
频率一致纠缠
Hong-Ou-Mandel干涉测量
符合计数 相似文献
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由于下转换光子对具有很强的时间相关性,可用来进行无噪声的光通讯,本文提出了一种按照经典理论模拟下转换光子对的方法,即使一对相同的光脉冲具有高频的同位相对内部结构,并通实验利用这种模拟的光子对恢复了被噪声完全掩盖的读号,不仅可作为改善光通讯的参考,也有助于对于转换光子对特性的探讨。 相似文献
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针对近11年高考物理实验能力考查现状,分析了实验试题的结构特点,得出了高考物理实验对学生实验能力考查的规律,并指出了学生在应试过程中出现的问题,对以后中学物理实验教学及培养学生的实验能力的实践提供依据. 相似文献
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用电位差计校正电表实验是主要针对工科学生所开的一个电学实验。由于仪器较多容易出的故障也较多,所以怎样根据仪器故障现象尽快对故障可能存在的部位作出判断,然后排除故障,是实验课能否顺利进行的根本保证。 相似文献
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EWB在电学实验中的应用 总被引:3,自引:0,他引:3
本介绍了EWB虚拟电子工作台在“电学实验”教学中的应用,通过几个实验设计,说明用该软件开发演示实验、设计实验及验证性实验的方法、特点以及利用计算机辅助教学的作用。 相似文献
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美国大学物理实验教学特色的分析 总被引:10,自引:1,他引:9
本对美国大学物理实验教学特色进行了较为详细的分析,并针对国内工科大学物理实验教学中存在的主要问题,提出了提高物理实验教学质量的若干思考和建议。 相似文献
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DLS粒度测量实验中噪声的影响与克服 总被引:1,自引:0,他引:1
噪声是始终存在于动态光散射实验的整个测量过程中,噪声的大小直接影响测量系统的信噪比大小与测量结果的准确性。根据噪声产生的物理原因,将动态光散射实验中的噪声分为外部环境噪声和设备内部噪声两大类。为了最大限度的降低噪声提高测量的准确性,在详细探讨影响动态光散射粒度测量实验中各种噪声的来源的基础上,分析了噪声对实验结果的影响,并提出相应解决的办法。 相似文献