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语言是一个物理现象。从物理的角度来研究语言的工作有着多方面的内容,其中最主要的一项是语音能谱的分析——包括各个音素的频谱分析和整个语言的平均频谱分析。所谓“平均”频谱,就是人们日常谈话时声压按频率的统计分布。它是设计传送语言的系统(电话、广播、电影录音等)时很重要的参考资料。本文所述的是测量汉语中的普通话和上海方言平均频谱的结果。测量时采取的是分析语噪声的方式,包括在万人以上的大会中的现场测量和在消声窒中的测量。语噪声方式比别的方式有着一定的优越性。文中列出了普通话和沪语的平均谱曲线,并将汉语(普通话)与 相似文献
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边界元法循环平稳近场声全息理论研究 总被引:1,自引:0,他引:1
循环平稳声场是工程中经常遇到的一种特殊非平稳声场,声压信号受到调制作用,导致频谱出现边带现象,经典的近场声全息技术重建得到的声场无法反映声场的调制特性.在平面循环平稳近场声全息基础上,提出一种边界元法的循环平稳近场声全息技术,用二阶循环统计量理论代替传统的傅里叶分析,并以声压的循环谱密度取代其频谱及功率谱密度作为重建量,可用于循环平稳声场中具有复杂表面声源的辐射声场.由于循环谱密度对循环平稳信号具有解调功能,用该方法重建得到的循环谱密度能有效地反映调制和载波信号的信息.仿真分析与实验表明了本理论的有效性和精度能满足工程要求. 相似文献
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大面积高分子压电薄膜水听器对湍流边界层压力起伏的自噪声响应 总被引:1,自引:0,他引:1
分析大面积高分子压电薄膜水听器(PVDF)水听器在湍流边界层压力起伏(TBLPF)作用下的电压响应。推导了利用TBLPF的波数频率谱密度和水听器的响应函数来计算TBLPF激励下水听器输出电压的自功率谱密度的一般表达式,并利用转移矩阵法求解了水听器理论模型的响应函数。还计算了该水听器的灵敏度和其对TBLPF响应的等效平面波声压谱密度级。结果表明,大面积PVDF水听器的灵敏度和其对TBLPF的响应谱可能出现弯曲振动谐振峰,这些峰仅靠增加表面覆盖层的厚度是难以抑制的。讨论了避免或抑制这些峰的可能方法。 相似文献
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光学元件表面频谱分布影响因素的分析方法 总被引:1,自引:0,他引:1
精密光学系统对光学元件的表面频谱误差的分布提出了控制要求,在加工中如何检测和控制光学元件表面的频谱分布成为一个新的问题。利用功率谱密度对频率的定量化描述功能,对检测数据进行样条插值,在同一极坐标系下计算功率谱密度,求取功率谱密度比值信息,分析小磨具技术的加工工具性能、形状及其运动方式对光学元件表面的频率分布影响。指出在加工中合理地改变加工参数可以快速有效地控制元件表面频谱的分布特征。在670 mm大口径非球面镜加工中做了验证。 相似文献
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循环平稳声场近场声全息理论与实验研究 总被引:3,自引:1,他引:2
提出一种用于分析循环平稳声场的近场声全息技术。此类声场信号的调制现象非常严重,频谱上存在着明显的边频带,由于无法有效地分离调制和载波信息,以往近场声全息技术的全息图会在边频带处出现虚假的能量。本技术用二阶循环统计量理论代替传统的傅里叶分析,并以声压的谱相关密度函数取代其频谱及功率谱密度做为重建物理量。由于谱相关密度函数可以对循环平稳信号进行解调处理,使得该技术的全息图上不会因为边频带的存在出现虚假能量。仿真分析及实验研究表明,本技术可以更准确地提取循环平稳声场的调制和载波信息。 相似文献
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言语平均频谱是言语信号的主要物理特性之一.它对于计算言语可懂度和设计言语传递系统是必不可少的参数.本文讨论根据测量数据通过近似、修匀以后计算得出汉语标准频谱.言语标准频谱与实际测得的言语平均频谱相差不大,但其形状简单,便于应用,甚至可用简单的解析式来代表,从而大大便利于各种工程设计.总观汉语平均频谱,可以看出,男声在250赫和500赫、女声在300赫和600赫左右有两个谱级最大的区域.在这两个区域之间,有一略为下降的小谷.这两个峰与基频和第一共振峰有关(有些音的第一共振峰与基频相距甚近).男声在500赫以上、女声在800赫以上开始下跌,平均斜率为12分贝/倍频程.但由于第二、第三共振峰的影响,使得曲线在1600到3000赫之间又略有起伏. 相似文献
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针对低信噪比下利用单水听器估计辐射噪声功率谱密度精度较差的问题,提出一种基于多途信道传输函数估计的垂直阵测量估计1 m处舰船辐射噪声功率谱密度的方法。该方法将信道传输函数表示为多途路径近场阵列流形向量的叠加,较快地估计了信道传输函数,将其用于舰船辐射噪声功率谱密度估计,可较简便地估计距声中心1 m处辐射噪声的功率谱密度,即谱源级。分析了产生功率谱密度估计误差的原因,包括信道估计误差和环境噪声引起的误差,为降低估计误差提供了理论依据。仿真结果表明,该方法估计1 m处辐射噪声功率谱密度的性能良好。 相似文献
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针对ICF系统要求,提出了一种基于统计理论的大口径光学元件功率谱密度测量方法。该方法将大口径波前划分成足够多个子区域,分别求得每个子区域波前的功率谱密度,根据统计理论可将大口径波前功率谱密度表示为各个子区域波前功率谱密度的加权平均,其权重因子是各子区域对应的面积。模拟计算和实验结果验证了统计法测量的有效性,并表明当子区域个数大于等于8×8时,统计法测量和子孔径拼接测量得到的功率谱密度吻合较好。统计法测量对平台移动精度和环境稳定性要求不高,可应用于大口径光学元件功率谱密度的过程检测。 相似文献
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