钎锌矿相GaN电子高场输运特性的Monte Carlo 模拟研究

应用全带多粒子Monte Carlo模拟方法,研究了钎锌矿相GaN 材料电子的高场输运特性. 模拟中利用了基于第一性原理总能量赝势方法计算得到的纤锌矿GaN的能带结构数据. 用Cartier的方法,计算碰撞电离散射率. 计算得到了电子平均漂移速度和电子平均能量与电场的关系曲线. 电离系数的分析表明当电场强度大于1 MV/cm时,才会有明显的碰撞电离发生,量子产额的分析表明当电子的能量大于7 eV时,量子产额随能量增加迅速增大. 研究了在0—4 MV/cm电场强度范围内电子在各导带的分布,低场下电子全部位于 关键词： 碰撞电离 高场输运 能带结构 Monte Carlo模拟     

聚乙烯-碘化铯中子阴极的最佳化

本文的中子阴级由聚乙烯、导电基底(Al)和碘化铯二次电子发射体组成.文中建立了一个此中子阴级的新的物理模型,并采用Monte Carlo方法模拟了中子同阴极作用产生低能二次电子的物理过程.模拟得到的出射二次电子能谱和产额与实验结果和理论分析符合得较好.我们还得到了最大探测效率时各中子阴极组分的最佳厚度.     

高速H2+离子轰击C靶诱发二次电子的发射行为与入射角的关系

运用Monte-Carlo方法结合半经验理论研究了高速H2+离子轰击C靶诱发二次电子的发射行为与入射角的关系。分别研究了电子发射产额与入射角以及发射统计性与入射角的关系。结果表明，由于H2+上的价电子的影响使得背向电子发射产额不遵守余弦倒数关系。斜入射时候的前向与背向电子产额的比值跟正入射时的情况不同。电子的发射统计跟入射角没有关系。标志偏离Poission分布的值 b，随入射能量的增加而增大。     

金属规则表面形貌影响二次电子产额的解析模型

表面形貌是影响二次电子发射特性的重要因素, 但目前仍缺乏刻画这一影响规律的解析模型. 本文通过分析发现表面结构的遮挡作用是影响二次电子发射特性的主要因素. 基于二次电子以余弦角分布出射的规律, 提出了建立表面形貌参数与二次电子产额之间定量关系的方法, 并以矩形槽和三角槽为例, 建立了电子正入射和斜入射时的一代二次电子产额的解析模型. 将推导的解析模型与Monte Carlo模拟结果和实验结果进行了比较, 结果表明本文建立的模型能够正确反映规则表面形貌的二次电子产额. 本文的模型对于反映常用规则结构影响二次电子出射的规律以及指导通过表面结构调控二次电子发射特性都具有参考价值.     

低能二次电子对微波输能窗击穿现象的影响

在微波输能窗次级电子倍增效应的模拟研究中，往往忽视低能电子的作用。基于Monte Carlo算法，模拟输能窗次级电子倍增规律，研究了经典的Vaughan模型、Vincent模型和Rice模型三种二次电子发射模型下次级电子倍增效应的差异，通过拟合倍增敏感曲线，获得了低能电子对切向和法向电场作用下输能窗次级电子倍增效应的影响。模拟结果表明，当切向电场作用时，三个发射模型得到的敏感曲线几乎重合，低能电子对敏感曲线的影响甚微，其中Rice模型的敏感区域最大。当法向电场作用时，由Vincent模型拟合得到的敏感区域远大于其他两个模型。     

高入射能量下的金属二次电子发射模型

基于高入射能量电子产生二次电子发射的物理过程, 分别对高入射能量电子产生的真二次电子和背散射电子的概率进行理论分析与建模. 利用Bethe能量损失模型和内二次电子逸出概率分布, 推导出高入射能量电子产生有效真二次电子发射的系数与入射能量的关系式; 根据高入射能量电子在材料内部被吸收的规律, 推导出高入射能量电子产生背散射电子的系数与入射能量之间的关系式. 结合两者得到高入射能量下金属的二次电子发射模型. 利用该模型计算得到典型金属材料Au, Ag, Cu, Al的二次电子发射系数, 理论计算结果与采用Casino软件模拟金属内部散射过程得到的数值模拟结果相符. 关键词： 二次电子发射 高入射能量 金属表面 散射过程     

Al,Ti,Cu,Mo原子的K壳层电离截面的理论计算

 电子离子碰撞过程是模拟激光等离子体的超热电子的能谱和产额的主要过程之一。基于相对论性的电子离子碰撞的K壳层的电离截面理论，计算了Al,Ti,Cu,Mo原子的K壳层的电子离子碰撞截面，结果和最近的文献实验数值和其它理论数值进行了比较，计算结果可用来模拟激光等离子体的超热电子能谱和产额。     

材料二次电子产额对腔体双边二次电子倍增的影响

采用蒙特卡罗抽样与粒子模拟相结合的方法,数值研究了材料二次电子产额对腔体双边二次电子倍增瞬态演化及饱和特性的影响.研究发现:随着材料二次电子产额的增加,二次电子增长率以及稳态二次电子数目和振幅均呈现增加的趋势,放电电流起振时间逐步缩短,稳态电流幅值以及放电功率平均值和振幅值均呈现逐步增加并趋于饱和的规律,沉积功率波形延时以及脉宽呈现逐步增加并趋于饱和的趋势.粒子模拟给出了高/低二次电子产额情况下的电子相空间分布、电荷密度分布、平均碰撞能量、平均二次电子产额、二次电子数目和放电电流的细致物理图像.模拟结果表明:高二次电子产额材料,饱和时更倾向趋于单边二次电子倍增类型分布;低二次电子产额材料的二次电子倍增饱和特性由空间电荷场的"去群聚"效应和"反场"效应同时决定,而高二次电子产额材料的二次电子倍增饱和特性则主要是由发射面附近的强空间电荷场"反场"效应决定的.     

金纳米结构表面二次电子发射特性

使用低气压蒸发工艺制备了金纳米结构,研究了金纳米结构的二次电子发射特性及其对表面形貌的依赖规律,表征了金纳米结构表面出射二次电子能量分布.实验结果表明:蒸发气压升高时,金纳米结构孔隙率增大,表面电子出射产额降低;能量分布表明金纳米结构仅对低能真二次电子有明显抑制作用,对背散射电子的作用效果则依赖于表面形貌.使用由半球和沟槽构成的复合结构,并结合二次电子发射唯象概率模型,对金纳米结构进行模型等效及电子发射特性仿真,模拟结果表明:纳米结构中的半球状纳米颗粒对两种电子产额均有增强作用;沟槽对真二次电子产额有强抑制作用,而对背散射电子产额仅有微弱抑制作用.本工作深入研究了金纳米结构表面电子发射机理,对于开发空间微波系统中纳米级低电子产额表面有重要参考价值.     

二次电子分布函数对绝缘壁面稳态鞘层特性的影响

由于缺乏详细的理论计算和实验结果,在研究绝缘壁面稳态流体鞘层特性时,通常假设壁面出射的总二次电子服从单能分布(0)、半Maxwellian分布等.在单能电子轰击壁面的详细二次电子发射模型基础上,采用Monte Carlo方法统计发现:当入射电子服从Maxwellian分布时,绝缘壁面发射的总二次电子服从三温Maxwellian分布.进而,采用一维稳态流体鞘层模型进行对比研究,结果表明:二次电子分布函数对鞘边离子能量、壁面电势、电势及电子/离子密度分布等均具有明显影响;总二次电子服从三温Maxwellian分布时,临界空间电荷饱和鞘层无解,表明随着壁面总二次电子发射系数的增加,鞘层直接从经典鞘层结构过渡到反鞘层结构.     

二次电子发射对质子束流测量精度的影响

二次电子发射直接影响法拉第探测器测量质子束流的精度,减小或消除二次电子发射的影响是提高束流测量精度的关键。根据二次电子补偿原理设计了二次电子补偿型同轴法拉第探测器,实验发现探测器测量质子束流强度时不能完全实现二次电子补偿。为改进和完善探测器的设计,从理论上分析了补偿片未能完全消除二次电子对束流测量影响的原因,是由于补偿片前向发射二次电子数目大于收集极后向发射二次电子数目所致。为此设计了质子束穿过金属箔发射二次电子测量装置,测量得到能量为5~10MeV质子穿过10μm厚铜箔时前向与后向发射二次电子产额,验证了理论分析的正确性。     

New theoretical results about the anisotropy of the secondary emission of Al(001) and Al(110)

The source function giving the number of electrons acquiring the energy E and the direction of propagation Ω at the depth z in a target of aluminium submitted to a bombardment of electrons of an energy of 350 eV is evaluated by a Monte Carlo calculation. This source function is used to study the anisotropy of the secondary electron emission. The influences of the depth dependence and of the anisotropy of the source function on the anisotropy of the secondary electron emission on Al(001) and Al(110) are negligible. These results are considered as an evidence that the observed anisotropy in the emitted beam is due to electron final state effects.     

近玻尔速度Ne2+离子穿过碳膜引起的电子发射

本文测量了入射能为2–25 keV/u的Ne²⁺离子穿过不同厚度碳膜诱导的前向、后向 (分别对应出射表面和入射表面) 电子发射产额. 实验中通过改变炮弹离子的能量, 系统的研究了势能沉积、电子能损以及反冲原子对前向、后向电子发射产额的贡献. 结果表明, 离子的势能沉积只对后向电子发射有贡献, 前向、后向电子发射产额分别与Ne²⁺离子在薄膜出射、入射表面的电子能损近似成正比关系, 其中电子能损很低 (对应于离子能量很低) 的时候, 反冲原子对电子发射的贡献不能忽略. 关键词： 近玻尔速度 电子发射 电子能损 反冲原子     

Messungen zur Ansprechwahrscheinlichkeit und Impulshöhenverteilung eines Sekundärelektronenvervielfachers

The pulse height distribution of a CuBe-secondary electron multiplier has been investigated under the action of single electrons. For an energy interval from 150 eV to 1000 eV the maximum pulse height increases with increasing electron energy (the energy corresponding to maximum yield being 365±10 eV). This shows the statistics of secondary electron emission as being dependant on primary electron energy.     

弱电离大气等离子体电子碰撞能量损失的理论研究

在前期计算电子能量分布函数的基础上, 求出弱电离大气等离子体中各碰撞反应过程的电子能量损失. 由于在弹性碰撞中电子-重粒子能量交换很少, 同时氮气、氧气分子又有很多能量阈值较低的转动、振动能级存在, 因此在大气等离子体中弹性碰撞电子能量损失所占份额很小(直流电场下小于6%). 研究发现, 弱电离大气等离子体中在不同能量区间占主导的能量损失过程不同. 随着有效电子温度(或约化场强)增加, 占主导的电子能量损失过程依次为转动激发、振动激发、电子态激发、碰撞电离、加速电离产生的二次电子. 在约化场强E/N=1350 Td (或有效电子温度为14 eV)附近, 平均电离一个电子所需的能量最小, 约为57 eV. 因此可以根据不同的需求调节电场强度, 从而达到较高的能量利用率. 关键词： 弱电离大气等离子体 碰撞反应过程 电子能量损失     

An application of the dust grain charging model to determination of secondary electron spectra

Dust grains – objects of different shapes with a size distribution from micro to nanometers – are generally considered as a part of many space as well as laboratory plasmas. Among various dust charging processes, electron-induced secondary emission plays an important role in plasmas containing a noteworthy portion of high-energy electrons. Since a part of secondary electrons has not the energy high enough to overcome the surface potential barrier, the resulting grain charge is determined not only by the secondary emission yield (related to the grain material and size) but also by the secondary electron spectrum. We have developed a model of secondary electron emission from small dust grains. In the present contribution, we discuss the profile of a secondary emission yield that can be received from the model and the measured equilibrium grain charge, both as functions of an incident electron beam energy. A comparison of these quantities leads to an estimation of secondary electron spectra. We have found that: (1) the energy spectrum of secondary electrons does not change with the energy of primary electrons and (2) the energy spectrum depends on the target material being harder for gold and silver than for glass grains.     

Secondary electron yield measurements of carbon covered multilayer optics

Carbon contamination on extreme ultraviolet (EUV) optics has been observed in EUV lithography. In this paper, we performed in situ monitoring of the build-up and removal of carbon contamination on Mo/Si EUV multilayers by measuring the secondary electron yield as a function of primary electron energy. An electron beam with an energy of 2 keV was used to simulate the EUV radiation induced carbon contamination. For a clean EUV multilayer, the maximum secondary electron yield is about 1.5 electrons per primary electron at a primary electron energy of 467 eV. The maximum yield reduced to about 1.05 at a primary electron energy of 322 eV when the surface was covered by a non-uniform carbon layer with a maximum thickness of 7.7 nm. By analyzing the change in the maximum secondary electron yield with the final carbon layer thickness, the limit of detection was estimated to be less than 0.1 nm.     

Interaction of Electrons with Indole,Tryptophan, and their Derivatives in the Gas Phase

The electron energy loss spectra (EELS) of indole, 3-indolyl propionic acid, 3-indolealdehyde, 3-dimethylaminomethylindole, tryptophan, and N-acetyl-L-tryptophan in the gas phase upon excitation by monokinetic electrons with an energy of E₀ = 11–50 eV are obtained. The structure of EELS is determined in the main by the indole chromophore; the side groups, except for the C=O group of 3-indolealdehyde, exert an insignificant influence. The energy of the lower triplet level ³L_a is 3.3 eV for indole and its derivatives and 3.2 eV for tryptophan and N-acetyl-L-tryptophan. Four singlet transitions in the region of 4.4–7.2 eV have been identified. The molecules studied, except for tryptophan, fluoresce in the gas phase on excitation by electrons. At low values of E₀ (10–25 eV), the fluorescence spectra are similar and are due to the indole fluorophore. Just as in the case of optical excitation, fluorescence on excitation by electrons is associated with the ¹L_b-S₀ transitions. An increase in the energy E₀ up to 60–80 eV leads to dissociation of a portion of the indole molecules and to the appearance of additional bands in the fluorescence spectrum. __________ Translated from Zhurnal Prikladnoi Spektroskopii, Vol. 72, No. 4, pp. 468–472, July–August, 2005.