Ds衰变常数的测量

利用北京谱仪在e⁺e^－对撞质心能量4.03GeV所取得的约22.3pb^－1的数据,用先标记μ,后标记D_s的方法,共找到2个D_s→μv,3个D_s→τv→μvvv衰变候选事例,给出了D_s的纯轻子衰变的绝对分支比为:Br(D_s→μv)+0.72+0.70－0.44),Br(D_s→τv)=(14+11－8)%,并给出不依赖于模型假设的D_s衰变常数为:f_Ds=(355+96+28－90－28)MeV.     

τ轻子Michel参数测量中的电子识别方法

北京谱仪(BES)合作组通过τ→eνν衰变的电子能谱测定Michel参数,本文利用BES在质心系能量4,03GeV处获取的e⁺e^－对撞数据,通过BES给出的带电粒子dE/dx、β、E/p测定值及其适当组合,实现了电子的有效识别.     

ψ(2S)的τ轻子对衰变研究

首次分析了ψ(2S)→τ⁺τ^－衰变道,给出其分支比测量结果.分析基于北京正负电子对撞机(BEPC)上北京谱仪(BES)所获取的1.27×10⁶事例,得到分支比值为(3.54±0.61±0.63)×10^－3.此值与粒子表给出的ψ(2S)其它轻子道分支比值比较,符合e-μ-τ普适性假设.利用这些数据,还计算得到ψ(2S)衰变的总宽度Γ_tot=251±37keV.     

由ψ(2S)→π+π－J/ψ道测量J/ψ轻子道衰变分支比

利用北京谱仪(BES)上取得的ψ(2S)数据,对ψ(2S)→π⁺π^－J/ψ,J/ψ→1⁺1^－和J/ψ→任意末态两个过程进行了细致的研究,得到J/ψ的轻子道衰变分支比为B(J/ψ→e⁺e^－)=(5.90±0.07±0.16)%和B(J/ψ→μ⁺μ^－)=(5.96±0.08±0.16)%,由此给出Be/Bμ的值为0.990±0.018±0.024.假定Be=Bμ,J/ψ的轻子道衰变分支比为B(J/ψ→1⁺1^－)=(5.93±0.05±0.16)%.上述结果可用来估计强相互作用耦合常数αs和QCD减除参数∧.     

τ±→π±+nπ0+ντ(n=0,1,2)衰变分支比测量

基于北京谱仪收集的4.03GeV质心系能量下e⁺e^－对撞数据,分析τ^±τ^±→e^±+π^±+nπ⁰+ν's(n=0,1,2)事例,给出分支比值Br(τ^±→π^±ν_τ)=(11.64±0.49^+0.76_－0.73%,Br(τ^±→π^±π⁰ν_τ)=(24.00±1.34^+1.36_－1.30%,Br(τ^±→π^±2π⁰ν_τ)=(9.39±1.68^+1.69_－1.66%.     

基于高精度理论截面计算的τ质量的再拟合

对于e⁺e^－→τ⁺τ^－过程在阈值附近的截面, 目前的理论计算精度已经达到10^－4. 基于理论截面的高精度计算, 利用极大似然函数方法, 重新拟合由e μ末态标记的τ⁺τ^－事例的扫描数据, 得到τ质量的测量结果为1776.98+0.44+0.12－0.51－0.13MeV, 其中第一项是统计误差, 由拟合程序给出; 第二项是系统误差, 主要包含能量刻度, 能散及本底估计等三方面的不确定性.     

在北京正负电子对撞机(BEPC)上τ质量的实验测量

在北京高能物理研究所正负电子对撞机(BEPC)上进行了τ轻子质量测量.τ⁺τ^－事例由北京谱仪(BES)探测,总积分亮度为5000nb^－1.用最大似然函数法选择逼近阈值的测量点能量,并最终确定τ轻子的质量为1776.9±0.4±0.2MeV.     

在e+e－对撞过程中τ轻子对产生的阈行为

利用结构函数方法,足够精确地给出了在e⁺e^－对撞过程中考虑了各种QED辐射修正效应后的τ轻子产生的阈行为解析表达式(这里包括了始态辐射修正、真空极化效应、库仑效应和终态修正效应等),这个阈行为用来为BES测量τ轻子的质量值.     

神经元网络在τ→ρVτ极化分析中的应用

在LEP/L3的τ→ρV_τ极化物理分析中,用人工神经元网络法选择事例,获得了比较高的选择效率.详细研究表明,网络本身不会引入明显的系统偏差.使用在Z⁰能区采集到的8977个τ⁺τ^－对事例,得到τ→ρVτ道的极化率P_τ=－0.129±0.050±0.050.本文介绍在这一工作中使用的神经网络训练方法和技巧.     

τ衰变中米歇尔(Michel)参数的测量

分析北京谱仪(BES)收集的4.03GeV质心系能量下e⁺e^－对撞数据,选出e⁺e^－→τ^±τ⁺→e^±X⁺v′S事例,X^±可以为μ^±,τ^±,ρ^±,拟合τ→ev′s中电子的能谱,得到τ→ev′s中Michel参数为ρ_τ→e=0.705,此结果与标准模型的预言相符合.