棱镜摄谱仪中紫光谱成像焦距变长的原因

在使用WPL小型棱镜摄谱仪记录光谱时,紫光成像像距比红光成像像距长.本文使用光学计算软件ZEMAX对小型棱镜摄谱仪光路中各元件的光学参量进行了详细计算,利用系统光具组计算公式,从数值上准确地给出了小型棱镜摄谱仪中紫光成像像距长于红光成像像距的计算结果和详细分析.     

瞬时多通道光电比色高温计

高速高温目标的温程测量一直是个难题。用高速摄影仪可以拍摄目标经一滤光片后的光谱底片,从而测量其亮度、温度,但这种办法很不准确。用摄谱仪可以测量目标不同波长谱线强度,用比色法确定温度,但这种办法不能测量出目标温度随时间的变化。把高速摄影仪和摄谱仪连用制成高速摄谱仪,这是测量瞬时高温的理想仪器,但仪     

小型自准直攝谱仪

1.在1958年7月间,由于大炼钢铁的需要,我们决定试制摄谱仪。经穷干苦干,终于同年十月一日试制成功了自准直小型摄谱仪。下面对这种摄谱仪作一简单的介绍。 2.摄谱仪的光学系统(如图):S为光源,L_1为一聚光透镜使光均匀照亮狭缝A,C_1是平面反射镜,使从狭缝来的光的方向转过90°。L_2是一消色差的复合透镜,既作准光物镜又作照相物镜,使从狭缝来的光线变成平行光经过棱镜而色散,     

Z箍缩等离子体高分辨X辐射谱诊断

 为了获取丝阵Z箍缩等离子体高能谱分辨的X辐射图像,建立了云母球面弯晶X光摄谱仪,根据色散平面内球面弯晶诊断空间分布X光源的几何模型分析了摄谱仪的能谱分辨,计算结果与光线追迹方法得到的结果吻合。当探测器位于罗兰圆上时,系统具备最优能谱分辨。在“强光一号”装置上,利用该摄谱仪诊断了镀镁铝丝阵负载Z箍缩等离子体的X辐射图像,结果表明,该球面弯晶摄谱仪的能谱分辨率高于1 000。     

苏制дФC－8－3型摄谱仪功能的扩展与应用

本文叙述了前苏联制造的摄谱仪和单色仪的特点，对苏制摄谱仪进行了改装，使其既是摄谱仪，又具有单色仪的功能。经过多次实验，使用效果较好。     

用于Z-pinch的二维空间分辨聚焦球晶摄谱仪

为了测量内爆等离子体空间分辨的X辐射谱，设计了球晶摄谱仪。球面晶体摄谱仪利用球面布拉格晶体作为色散元件测量丝阵内爆等离子体X辐射谱。球面晶体在子午面和弧矢面内具有相同的曲率半径，因此，子午面聚焦点和弧矢面聚焦点位置不同，要同时获得光源能谱和二维空间结构信息，必须把探测器置于弧矢聚焦平面上。当球面晶体参数、光源与晶体之间的距离以及中心掠射角确定后，就可以确定二维空间分辨球晶摄谱仪的探测器。     

利用凸晶摄谱仪获取Z箍缩等离子体X辐射单色图像

考虑晶体摇摆曲线的影响,用光线追迹方法讨论了凸晶摄谱仪的能谱分辨率、单色图像径向空间分辨本领以及晶体与X射线源之间的距离对它们的影响.根据讨论建立了云母凸晶摄谱仪,在“强光一号”装置上对系统进行了成功地测试,获得铝丝阵负载Z箍缩等离子体X辐射单色图像.时间积分图像表明,Z箍缩Al等离子体K壳层Lyα和Heβ线辐射来自等离子体核心直径约2.3 mm的区域. 关键词： 单色图像 摄谱仪 光线追迹     

用于Z箍缩X辐射谱诊断的柱面凸晶摄谱仪的性能分析

 考虑X光源的空间尺寸和晶体的摇摆曲线,用光线追迹方法计算了诊断丝阵Z箍缩等离子体X辐射谱的柱面凸晶摄谱仪的色散、能谱分辨和空间分辨以及系统参数对它们的影响。结果表明：决定柱面凸晶摄谱仪能谱分辨的主要因素是光源尺寸以及光源-晶体之间距离;增大光源-晶体之间距离能够改善能谱分辨,但导致径向空间分辨能力下降。并依此建立了云母晶体摄谱仪,在“强光一号”装置上对系统进行了测试,获得时间积分铝丝阵负载Z箍缩等离子体X辐射谱。     

用棱镜摄谱仪测波长实验数据处理方法

本文阐述了用棱镜摄谱仪测波长实验中心以拟合算法处理数据的方法。     

小型摄谱仪中阿贝式横偏向棱镜的调节技巧

本介绍了小型摄谱仪中的阿贝式横偏向棱镜的快速调节技巧。     

基于光子筛的软X光谱仪

 介绍了采用新型软X光谱学光子筛作为分光元件的软X光谱仪的原理和结构参数设计。新谱仪理论测量范围为100 eV~2 keV,光谱分辨力达0.35 nm。应用该谱仪在SILEX-Ⅰ装置上测量了飞秒激光与固体铜靶相互作用产生的X射线发射谱。实验结果表明,该谱仪主要性能指标达到设计要求,适合于激光与等离子体相互作用产生的软X射线研究。     

高分辨率中阶梯光栅光谱仪精确装调与标定

中阶梯光栅光谱仪是一种高分辨率、高精度新型光谱仪器,其分辨率可达到几万至几十万,结构参数的微小偏差严重影响着其分辨率和波长标定精度,所以精确的装调方法是保证中阶梯光栅光谱仪性能指标的重要环节之一。针对中阶梯光栅光谱仪的结构特点,对中阶梯光栅光谱仪精确装调方法进行了研究。该方法简便、快捷,适用于小体积、封闭式结构设计的中阶梯光栅光谱仪。通过该方法的装调,使中阶梯光栅光谱仪工作状态与设计结果一致。给出了最终波长标定结果,其波长标定误差小于0.002 nm,满足系统性能要求。     

一种平场范围在30~50nm的平焦场光谱仪

 理论上计算了入射距离747.4 mm及不同入射角情况下，日立变栅距凹面光栅的平场范围，确定了平场范围在30~50nm的一组平场谱仪的新设计参数。在原入射距离的情况下，新研制的平场谱仪在入射狭缝前加了一个轮胎镜，使谱仪具有空间分辨能力，且提高了收集效率，。利用一种真空紫外光谱灯对He气放电的特征谱线对平场谱仪进行了标定。在入射狭缝为 0.1mm时，实验上测得30.38nm谱线的宽度约为0.04mm, 在30nm附近的分辨率为0.001，在消像散波长40nm附近，分辨率将优于0.001。最后，利用标定后的平场谱仪对毛细管放电不同气体等离子体辐射进行了初步的测谱实验。     

双光栅切换微型平场全息凹面光栅光谱仪

基于CCD的微型平场全息凹面光栅光谱仪,以其简单紧凑的结构和快速高效的工作方式在光谱分析领域获得了广泛的应用。但是,由于受限于色散距离,单纯依靠优化光栅像差很难进一步使光谱分辨率获得大幅提高。提出一种双光栅切换微型平场全息凹面光栅光谱仪的设计方法,用两个使用结构相同的光栅代替传统的单光栅设计,给出一个光谱范围为400～1000nm光谱仪的具体设计,计算显示光谱分辨率最大可提高为原来的2.5倍。通过对光栅衍射效率的计算分析,说明此方法能够显著改善仪器的通光效率。设计制作了原理样机,进行了装调测试,实验结果与理论计算相吻合。     

使用全息透镜作色散和聚焦元件的摄谱仪器

采用单一离轴型全息透镜兼作色散和聚焦元件,可以制成简单紧凑的摄谱仪器。本文讨论了记录全息透镜的最优方案,估计了这种仪器的性能并给出了实验结果。 关键词：     

SPECTRO光电直读光谱仪的取样与使用

直读光谱仪分析快速、准确,操作简单,方便实用,已得到了广泛应用。本文介绍了光电直读光谱仪的取样及操作。     

可变入射距离平焦场谱仪的概念设计

 从理论上证明了可变入射距离的平焦场软X射线谱仪设计的可行性。对于标称栅距σ₀＝（1/1200）mm和象差修正项M₂₀＝-20/R, R分别为5649和6000mm的光栅, 对不同的入射距离, 计算出与平焦场相对应的入射角和成象距离, 使一定波长范围内的光谱可以被聚焦在一个平面上，从而提高了变栅距光栅使用的灵活性。同时可通过取消谱仪中入射狭缝, 使谱仪的光通量提高约1个量级。     

An electrostatic spectrograph in the form of a truncated cylinder

An electrostatic spectrograph based on an energy analyzer in the form of a truncated cylinder is designed. The parameters of the device can vary in a wide range. The position of the focal line is found for the beam energies differing by one order of magnitude. The linear and specific energy dispersions are determined. The performance of the spectrograph suggested is compared with that of a conventional spectrograph with two planar electrodes.     

带超环面镜的掠入射光栅谱仪测试系统响应特性模拟分析

指出了文献[1]在物理概念上和公式推导中的错误,并在订正了这些错误之后,考虑了实际的激光等离子体光源的几何尺度和线状等离子体的安排,对在复合泵浦X激光增益实验中所使用的带超环面镜X光中继元件的掠入射光栅光谱仪系统进行了全面的模拟计算.结果表明,作者所使用的带超环面镜的X光增益测试系统,其因离焦而导致的非线性效应是完全可以忽略的,系统的空间分辨能力的下降也是非常小的,从而否定了文献[1]中的结论,表明作者在X激光增益测量实验中所使用的带超环面镜X光中继元件的掠入射光栅光谱仪系统是完全可靠的.     

带有磁分析器的半导体探测器带电粒子谱仪

本文报导了一个新型的带电粒子谱仪。它将小型磁分析器分析粒子动量和半导体探测器有较高能量分辨率的特点结合起来,达到了分辨粒子和分析能谱的目的。本文叙述了谱仪的设计、结构和用于核反应研究的一些实验结果,讨论了该谱仪的应用范围和特点。这种谱仪简单灵活,且有较好的性能。