具有可变样本容量的非正态EWMA控制图

为了提高控制图的监控效率,本文研究非正态分布下,EWMA控制图的可变样本容量设计问题。首先利用Burr分布近似各种非正态分布,构造可变样本容量的非正态EWMA控制图;其次运用马尓科夫链法计算可变样本容量非正态EWMA控制图的平均运行长度;然后与传统的非正态EWMA控制图进行比较得出:当过程中出现小波动时,可变样本容量的非正态EWMA控制图能够更快地发现过程中的异常波动,具有较小的平均运行长度,其监控效率明显优于传统的非正态EWMA控制图。     

普哇松分布参数SPRT的OC函数的显式

<正> 一、问题的提出关于普哇松(Poisson,S.D.)分布参数序贯概率比检验(简记为 SPRT)的 OC 曲线的形式在[1]中曾给出过.如果用沃尔德(Wald,A.)所建立的关于 SPRT 的一般理论也可以给出.这两种形式的 OC 曲线都是以参数方程给出的,但是由于[1]与[2]所采用的方法根本不同,所以最后得到的参数方程在形式上是不同的.本文将指出这两组参数方程的等价性.同时,将证明在普哇松分布的情形下,可以将 OC 曲线的参数方程表示为显式.     

可变抽样区间和样本容量的非正态EWMA控制图经济设计

为了降低过程控制成本和提高监控效率,针对质量特性值不服从正态分布的情况,研究可变抽样区间和样本容量(VSSI)的指数加权移动平均(EWMA)控制图的经济设计问题。首先对监控非正态分布的EWMA控制图进行抽样区间和样本容量变化设计;其次建立VSSI 非正态EWMA控制图的经济模型,通过使费用成本函数最小得到控制图的最优设计参数组合;然后给出工业中的一个例子,用遗传算法对经济模型搜寻最优解;接下来对经济模型进行灵敏度分析,得出控制图费用参数与设计参数之间的影响关系;最后通过最优性分析,得出所建立的VSSI 非正态EWMA控制图的经济性优于VSI、VSS非正态EWMA控制图。     

正态分布的小样本数据的相容性检验理论和方法

对现有的任意分布的相容性检验理论和方法进行了详细分析和探讨 .指出了现存的一些问题 .并研究了正态分布的小样本容量的相容性检验问题的理论 ,提出了新的检验方法 .检验效果较好 .     

关于半参数函数关系模型的渐近正态性

本文研究固定设计的半参数函数关系模型.利用权函数和广义最小二乘法得出未知参数和未知函数的估计,在一定的条件下证明了估计是强相合的,并且渐近地服从正态分布.     

关于半参数函数关系模型的渐近正态性

本文研究固定设计的半参数函数关系模型.利用权函数和广义最小二乘法得出未知参数和未知函数的估计,在一定的条件下证明了估计是强相合的,并且渐近地服从正态分布.     

变结构面板协整检验的响应面函数研究

Panel-ρ检验是常用的异质面板数据协整检验统方法,本文通过Monte Carlo模拟分析Panel-ρ协整检验方法的小样本性质,以及该方法对于变结构面板协整检验的检验功效.结果表明,在小样本情况下Panel-ρ统计量在原假设下的渐进分布会不同于该统计量的理论渐进分布,而且面板数据中存在的结构变化也会对渐进分布产生影响,从而降低Panel-ρ检验的检验功效.为了得到更加符合实际样本情况的统计量临界值,通过Monte Carlo模拟方法得到Panel-ρ协整检验方法的响应面函数,建立了统计量的临界值与面板数据的样本容量、结构变化类型的直接函数关系.Monte Carlo模拟检验表明,响应面函数法确实能够改善Panel-ρ协整检验的检验功效,在小样本容量和具有结构变化的情况下保证了面板协整检验的有效性.     

半参数可加测量误差模型的白噪声检验

当模型误差不是白噪声时,通常的估计方法无效,特别是当回归因子包含后延变量时,估计不相合.因此,文章研究了半参数可加测量误差模型的白噪声检验.提出了一个白噪声检验统计量,并在模型误差是白噪声的零假设下证明了所提检验统计量服从渐近正态分布.随机模拟表明所提出的检验统计量具有良好的检验功效和水平.     

基于样本协方差矩阵的多维随机数生成方法

对于概率模型未知的多维数据样本容量扩充问题,根据主成分分析原理以及多维正态分布的性质,讨论并给出了与已知多维样本数据有相同协方差结构的模拟数据生成算法,并在此基础上给出了变量的离散化处理方法。实现了在小样本数据基础上不改变变量间协方差结构的样本容量扩充,为小样本条件下的数学建模、检验和分析提供样本数据支撑。     

计数型二次序贯网图检验

序贯概率比检验(SPRT)是应用非常广泛的抽样检验方法, 序贯网图检验在控制最大样本量方面很好地改进了SPRT, 但其结果还有进一步改进的余地, 为此, 我们建立了二次序贯网图检验, 计算结果表明, 它比原先的计数序贯网图检验有更好的效果.