高分辨电子显微象

材料科学中的一个重要问题是了解材料的性能、结构与制备工艺之间的关系.衍射方法,特别是X射线衍射方法一直是观测物质结构的主要方法.然而衍射方法都是间接方法。无论是X射线衍射、中子衍射或电子衍射方法都只能给出平均结构,即只能给出试样中按被观察的全部晶胞而平均了的原子配置情形.虽然X射线形貌和电子衍射技术可用以研究晶体的缺陷,但仍是一种间接的观测手段,仍不能看到缺陷部分的原子配置情形.因此。人们早就希望能找到一种直接观测晶体结构和缺陷的方法. 高分辨电子显微学的发展使晶体结构和晶体缺陷的直接观测成为现实[1].自从1…     

新的刀口象分析法

本文提出了以刀口像分析为基础测量OTF的新方法。到目前为止,以刀口像来求得OTF都要经过微分计算,而后再进行傅立叶变换。对被扫描刀口像的强度分布的微分,不论是数字计算或实验法,都包含着不可靠的因素。因此,而后的傅立叶变换也只能在这些不十分精确的数据上进行。本文所提出的方法不用微分计算,而在傅立叶变换中应用了Walsh函数,得到了令人满意的、很实用的精确方法。在这个方法中,有效地使用了限制尺寸的扫描器,使整个分析过程简化并达到了足够的精度。利用对照相胶片的初步分析结果来说明这种方法。     

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采用由脉冲负偏压调节的等离子体增强化学气相沉积方法,以硅烷为源气体,在玻璃基片上沉积得到了多孔二氧化硅薄膜。将反应过程中加在沉积区域的脉冲偏压固定在-350V,当占空比从0.162增大到0.864时,薄膜样品的形貌、成份和结构均不相同。扫描电镜照片表明,组成多孔氧化硅薄膜的颗粒在占空比增大时变得细腻,并且薄膜整体变得多孔且蓬松。拉曼光谱和红外光谱结果显示,薄膜样品中的非晶硅和Si-H键在较高的占空比下减弱甚至消失。占空比升高时氧化硅桥键所占比例持续增加。     

象增强管检验仪

<正> 由于迫切要求用客观的方法代替主观的方法来评价在很低照度下的电子光学系统的成象质量,英国Sira研究所研制成功了象增强管检验仪。这种检验仪在生产过程中检验象增强管的调制传递函数,按照新制定的标准规格评定象增强管的性能。这种仪器可检验各种类型     

CCD狭缝摄象

在过去的几十年中,各靶场已广泛应用狭缝摄影对种种飞行弹丸的多项重要技术参数进行测试,它在许多测试项目中应用的有效性、广泛性和经济性已被人们所肯定。据报道,在国外的一些靶场所进行的发射试验中,狭缝摄影机曾占全部测试设备中所使用的摄影仪器的百分之九十,这是因为狭缝摄影有其独特的、其它方法不可比拟的优点。     

象玻璃的晶体

对了解晶体的结构和性质很有效的一些理论和实验方法,大多不能用于说明玻璃态的结构和性质.玻璃态的微观结构至今仍有争议;一些基本问题如为什么玻璃态是固体(或甚至玻璃是固体吗?),物理学家还回答不清楚.因此,如果能找到一些晶态系统,其结构是清楚的.但又具有玻璃态特有的许多     

镜头的点象分析

1.前言在照相镜头性能测定方面,广泛地采用着鉴别率、象差、OTF等方法。另外依靠成象基础的点象进行测定也早已被采用。前三者各有其特点,是有效的测定方法。但是,尽管如此,还是有不足之处,点象分析却提供了弥补这一不足的有效手段。     

静电現象及其危害

在初中或高中物理教学工作中,讲到电学中的靜电部分的时候,常常感到联系实际的内容比較貧乏。其实,靜电现象是十分复杂的,内容也是十分丰富的。本文仅就靜电的产生方式和靜电在工业上的危害作用及防止方法作些介紹,供中学物理教学参考。     

英国马拉德公司象增强器

1.一般介绍象增强器是电子光学器件。它可以用电子学方法增强聚焦在光电阴极上的景物图象。增强了的图象显示在荧光屏上。象增强器由光电阴极、电子光学透镜和荧光屏组成。现有两种类型的被动式象增强器: a)第一代被动式象增强器(单级和三级级联,均为倒象式);     

用Hough变换识别二维图象

本文介绍了一种识别图象的方法-Hough变换以及一些二维图形在Hough空间中的特征和用Hough变换识别二维图象。     

全息照相再现实象分析

全息照相再现实象分析胡德敬（同济大学物理系上海２０００９２）本文根据全息照相的成像理论对再现实像的形成条件、最佳记录光路、观察方法和特点作一分析，其结果和实验一致．一、理论根据图１中全息干板位于ｘｏｙ平面，物点和参考光波源分别用Ｏ（ｘ０，ｙ０，ｘ０）...     

夜视象增强器

三代18mm 微道板薄片象增强器是为微光夜视应用设计的。高效 GaAs 光电阴极与7056玻璃输入窗口粘接在一起,有一个微道板电流放大器和荧光屏。光电阴极对580—820nm 的微光和红外图象很灵敏。光电阴极的电子图象近贴聚焦在微道板上并几乎无畸变的被放大。微道板的电子图象被近贴聚焦在绿色 P—20荧光屏上,此荧光屏沉积在     

象增强器件

在没有月亮的夜晚,我们会感到观察物体比白天要困难得多。当目标物比较远或对比度比较差时,象往往变得模糊起来,甚至分辨不清。黑夜妨碍人们的视觉,也阻碍了人们的行动。人们自然会想到,能不能利用近代的科学技术成就来提高人们在夜间的观察能力呢? 在低照度下,观察对比度一定的物体时,眼睛分辨力与目标物亮度的关系接近于Lα~2=常数;α是目标物在眼睛中的张角,L是它的亮     

CCD相机象移的补偿

本文对CCD相机由象移造成的图象退化进行了分析,并对图象的恢复机理进行了探讨,提出了相应的象移补偿方法,给出了相应的算法及程序.     

位错在裂纹顶端的象力

本文利用保角变换方法计算了近椭圆孔边位错象力。将椭圆一轴缩小到零,得到了裂纹情况的位错象力。 关键词：     

象面全息无损检测的实验研究

本文对象面全息无损检测方法进行了实验研究,结果表明该方法可用白光再现;同时,对于小缺陷可进行放大成象,从而提高了对小缺陷的判别精度。     

用CCD象传感器检测时变强度分布

本文提出了用电荷耦合器件(CCD)象传感器检测时变强度分布的方法。已经证实,在电荷存贮周期内对时变强度积分而得到的光电探测器元件的瞬时输出,可以再现时变强度。采用正弦型调相激光时,这种检测方法不同于测量光学表面的轮廓分布。     

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Polycrystalline silicon thin film formation from inductively coupled plasma enhanced chemical vapor deposition system was studied. The dilution effect of H₂ on film deposition was discussed. The X-ray diffractometry, Raman spectra and scanning electron microscope measurement were carried out to analyze the influence of H₂ on the microstructures and the topography of polycrystalline silicon thin films. The optimum conditions for polycrystalline silicon thin films deposition were also discussed. The results indicated that polycrystalline silicon thin films with columnar structure crystals were fabricated on glass substrate. The deposition rate exhibited monotonic increase with Silane ratio R, a maximum deposition rate of 0.65nm⋅s^-1 was obtained. However, the crystal volume fraction of polycrystalline silicon thin films initially increased from 60.5% to 67.3%, and then slightly decreased with the increase of R. Therefore, the crystal has a maximum value of 67.3% at R=4.8%. The polycrystalline silicon thin films had a compact and well-arranged structure at this ratio. This structure can also increase carrier mobility and improve the efficiency of solar cells.     

一种找分光计镜面反射象的方法

本文提出一种在望远镜外寻找和粗调分光计镜面反射象的方法。