光电子技术与器件 红外技术与器件

P225.2 2004053769 红外相位测距系统精度及误差分析=Accuracy and error analyses for IR phase rangefinder[刊,中]/汪芙蓉(西安应用光学研究所,陕西,西安(710065))∥应用光学。—2003,24(增刊),—19-23 就红外相位测距系统的测距精度及误差来源等,对系统的合理化设计、正确使用及系统检验有非常重要影响的因素进行了定性、定量分析,并提出改进措施。图7(杨妹清)     

红外技术与器件

TN212 2004010548 红外辐射源伪距测量定位方法=Infrared emitter locationmethod using pseudo-range measurements[刊,中]/万群(清华大学电子工程系.北京(100084)),彭应宁…∥红外与毫米波学报.—2003,22(3).—234-236     

光电子技术与器件 光电成像与器件

TH703 2006065279 Inspeck成像扫描仪的三维成像技术=3D imaging technol- ogy in Inspeek imaging systems[刊,中]/冯秋峰(上海交通大学激光与生物医学研究所．上海(200030))．任秋实…//激光与光电子学进展．—2006,43(4)．—40-43介绍了Inspeck公司的三维成像扫描仪,从三维成像原理、深度和颜色信息获取方面详细介绍了三维成像技术。图6参11(严寒)     

全息术与器件

O438.1 2004031974 基于数学形态学的数字图像生成及其应用=Digital imagesynthesis based on mathematical morphology and its application[刊,中]/曹汉强(华中科技大学电信系.湖北,武汉(430074)),朱光喜…∥光电子·激光.—2003,14(8).—855-857     

光电子技术与器件 红外技术与器件

O441．4 2006065299太赫兹成像技术的实验研究=Terahertz time-domain spectroscopy imaging[刊,中]/张振伟(首都师范大学物理系．北京(100037)),崔伟丽…//红外与毫米波学报．—2006．25(3)．—217-220建立了一套透射式逐点扫描太赫兹(THz)辐射成像装置,它采用<100〉-InAs晶体作为高功率、宽频谱的THz辐射源和高灵敏度、低噪声的电光取样差分探测方法,具有对隐蔽在非透明电介质材料内物体成像的能力。系统能够获得成像物体上每一点的光谱数据,可以对物体进行     

光电子技术与器件 红外技术与器件

TJ765.3 2006032463基于PCI总线的位标器陀螺转子实时数据采集系统=Re-al ti me data acquisition systemof the coordinator gyrorotorbased on PCI bus[刊,中]/陈琛(华中科技大学光电子工程系.湖北,武汉(430074)) ,刘小英…∥红外技术.—2006 ,28(1) .—23-25介绍了一种运用相位法测量扫描圆直径的数字测试方法。详细阐述了基于PCI总线的实时数据采集系统如何实现对扫描圆的数字化测量,包括系统的硬件与软件设计,并对测试结果进行了分析。图6参3(严寒)TJ765.5 2006032464红外隐身原理及发展=Principle and development of infra-red…     

光电子技术与器件 红外技术与器件

TJ765.3 2006043470基于表面设计的红外辐射特征控制技术=Infrared featurecontrol technology based on surface design[刊,中]/马超杰(解放军电子工程学院.安徽,合肥(230037)) ,李晓霞…∥红外技术.—2006 ,28(3) .—157-160红外辐射特征控制是红外伪装技术的关键。结合腔体辐射理论,提出了在目标表面形成不同的微孔组合来选择及控制其发射率的方法。通过一个具体实例计算验证了这种技术的实用价值,并探讨了其在红外伪装中多种实际应用方式及自适应红外伪装系统的实现方法,最后给出了此技术今后的发展和改进的方向。图7表1参6(于晓光)TN…     

全息术与器件

O438.1 2004010345 光学扫描全息术中的孪生像噪音及消除=Twin-imagenoise and its elimination in optical scanning holography[刊,中]/孙萍(北京理工大学光电工程系.北京(100081)),谢敬辉…∥光子学报.—2003,32(3).—340-343 阐述了光学扫描全息术的基本原理,分析了孪生像     

光电子技术与器件 红外技术与器件

TN2112006054504微机电系统红外脉冲光源调制特性的研究=Study onmodulation characteristic of micro-electromechanical sys-teminfrared radiation source[刊,中]/吴飞蝶(复旦大学微电子系.上海(200433)),纪新明…//光学学报.—2006,26(7).—1097-1101针对微机电系统热激发红外光源的动态特性,采用一种新的计算方法,即通过建立光源在不同初始温度下升温与加电时间、功率之间的关系,定量估算不同脉冲频率下辐射功率的调制深度。该方法可以计算调制深度大情况下的动态特性。就其中两个重要影响因素加电方式和发射率分别进行讨论,得到饱和…     

光电子技术与器件 红外技术与器件

TJ765.32006010569侧窗头罩高速层流流场光学传输效应数值模拟=Numeri-cal si mulation on the optical transmission distortionsthroughout the laminar flowfield[刊,中]/陈澄(中国航天科工集团二院二部.北京(100854)),费锦东∥红外与激光工程.—2005,34(5).—548-552研究了气动光学传输效应中层流流场光学传输分量的计算方法,应用光线追迹法和物理光学方法研究层流流场引起的像偏移和低程度的像模糊,结合典型状态下的流场数据,进行了高速层流流场光学传输效应的数学仿真,得到了仿真计算结果。采用实际计算出的流场数据,得出的计算结果…     

光电子技术与器件 光能转换与器件

TM914．4 2006065287用于GalnP/GaAs双结叠层太阳电池的MOVPE外延材料=Wafers for GalnP/GaAs tandem solar cells bv MOVPE [刊,中]/黄子乾(南京大学物理系．江苏,南京(210016)),李肖…//太阳能学报．—2006,27(5)．—433-435采用金属有机化合物汽相淀积(MOVPE)技术生长用于GalnP/GaAs双结叠层太阳电池的外延材料。针对材料生长中的隧穿结、p-AIInP层等关键问题,通过对掺杂剂、生长技术及条件的调整与改进,极大地提高了GalnP/     

光电集成与器件

TN2562007010481光电耦合器的测试=Testing photo-coupler[刊,中]/张宏琴(吉林化工学院.吉林,吉林(132022)),丁力//大学物理实验.—2006,19(1).—43-46概述了光电耦合器主要工作原理和特性参数,介绍了其功能测试和参数测试方法。图5(于晓光)TN2562007010482阵列波导光栅解复用器光谱响应特性分析=Spectral re-sponse characteristics of arrayed waveguide grating demul-tiplexer[刊,中]/郭福源(浙江大学信息与电子工程学系.浙江,杭州(310027)),王明华//光电工程.—2006,33(10).—49-55基于单模光波导本征模场及其端面衍射场分布的高斯…     

光电子技术与器件 光调制与器件

TN761 2006032404LiNbO3电光调制器的小信号功率测试法研究=Measure-ment of Li NbO3modulator frequency response using small-signal power measuring technique[刊,中]/黄亨沛(中科院半导体所集成光电子学国家重点实验室.北京(100083)) ,伞海生…∥光电子·激光.—2006 ,17(1) .—37-40阐述了小信号功率测试法测量Li NbO3电光调制器频率响应的原因,对传统的小信号功率测试法加以改进,在以网络分析仪(VNA)为主的常用扫频测试系统基础上建立起一套简单可靠的新型测试系统,实现了计算机控制自动测量。改进的测试方法考虑了测试系统中…     

光电子技术与器件 光探测与器件

TN366 2006032402射线数字探测器灵敏度校正的等效能谱法=Equivalentenergetic-spectrum method for digital X-ray detector sensi-tivity correction[刊,中]/梁丽红(中国特种设备检测研究中心研究开发部.北京(100013)) ,丁克勤∥光电子·激光.—2006 ,17(1) .—65-68通过分析射线成像检测的数理模型,提出等效能谱透照成像方法,对平板探测器灵敏度进行校正。利用无缺陷的高密度材料等被检试件,进行背景成像,实现在有无试件情况下的探测等效能谱成像。研究结果表明,等效能谱法增强了成像的可视化效果,对比度灵敏度提高了20 ~40灰度级,提高…     

光电子技术与器件 光探测与器件

O434．22 2006065271 Pt/CdS Schottky势垒紫外探测器的研制=Development of Pt/CdS Schottky barrier ultraviolet detectors[刊,中]/秦强(昆明物理研究所．云南,昆明(650223))。朱惜辰…//红外技术．—2006,28(4),—234-237介绍了Pt/CdS金属半导体接触Schottky势垒形成及In/CdS的欧姆接触工艺研究,由此制成了紫外探测器。测试了探测器的I-V特性,零偏下的光谱响应和器件的频率响应。观察了器件的反偏响应情况。获得的探测器在γ= 440 nm处加两伏反偏时的响应率为0．17 A/W,内量子效率最大可达64%。图7参6(严寒)     

光电子技术与器件 光调制与器件

TN761 2006065275一种新型谐振腔增强型光调制器结构的研究=A novel resonant cavity enhanced optical modulator structure[刊,中]/周震(北京邮电大学电子工程学院．北京(100876)),马建新…//半导体光电．—2006．27(3)．—250-253提出了一种新型谐振腔增强型(RCE)光调制器结构,它由一个对称型谐振腔增强型光调制器和一个高反镜构成。利用传输矩阵法对该器件的插入损耗及临界吸收厚度进行了模拟分析,并同传统谐振腔增强型光调制器的相关性能进行了比较。分析结果表明,这种结构解决了传统谐振腔增强型光调制器的临界吸收厚度与插入损耗之间相互制约的矛盾,可同时获得低临界吸收厚度和低插入损耗。图5参11(严寒)     

光电子技术与器件 光探测与器件

TL816.5 2006043410基于PSD的电振动台特性检测系统研究=Research of thetesting systemof characteristics of electrical vibration tablebased on PSD[刊,中]/徐晖(浙江大学现代光学仪器国家重点实验室.浙江,杭州(310027)) ,舒晓武…∥光学仪器.—2006 ,28(1) .—80-84介绍了基于位置敏感传感器的电振动台特征检测系统的研究。该系统采用自准直光路原理,利用PSD对位置的高分辨能力特性和电振动台微小角扭动进行精密测量数据经高速AD采样后送入计算机,通过分析即可获得电振动台在各种振动模式下角速率时域频域特性。对系统存在的各…     

发光与发光器件

TN312.8 2004031629 干涉效应对有机发光器件输出的影响=Influence of interference on organic electroluminescence outputs[刊,中]/徐洪光(东南大学电子工程系.江苏,南京(210096)),孟瑞平…∥光电子·激光.—2003,14(9).—905-908     

光电成像与器件

TH703 2004032115 光学合成孔径成像技术发展概况=Review on optical synthetic aperture imaging technique[刊,中]/张伟(哈尔滨工业大学电子科学与技术系.黑龙江,哈尔滨(150001)),王治乐…∥光学技术.—2003,29(6).—757-761