原位动态电子显微学研究进展

随着电镜内原位技术的不断成熟和发展,透射电子显微镜不再仅仅是材料结构表征的工具,还是实现高精度纳米加工、性能测试等的重要手段。这不但丰富了纳米尺度下开展实验研究的方法,也拓宽了透射电子显微镜的应用范围,为纳米科学与技术的迅速发展提供了新的契机。本文侧重作者所在研究小组的研究工作,以"将纳米实验室建在透射电子显微镜里"的构想为主线,从材料的原位生长、结构加工、性能表征和器件构建等四个方面综述了近年来基于透射电子显微镜的代表性原位实验研究进展。     

表面和界面电子显微学

电子显微镜经过五十多年的发展,目前的性能已经达到：空间点分辨率优于0.2ｎｍ,微衍射和微分析的空间分辨率优于2ｎｍ．利用这些性能,电子显微学得到了广泛的发展[1]．本文要介绍的是近十年来表面和界面电子显微学的进展．表面电子显微学的发展是和超高真空技术的普及分不开的．比较简便的办法是将超高真空机组联到电镜试样室[2,3],使试样室达到超高真空,有的实验室还同时装上蒸发装置用来原位观察薄膜生长过程．更好的办法....     

石墨烯的透射电子显微学研究

石墨烯(Graphene)是近几年迅速发展起来的研究热点材料之一,利用透射电子显微镜(TEM)研究Gra-phene的结构特征和原子动态过程,是Graphene研究的重要进展,文章评述了利用透射电子衍射方法对Graphene的层数、堆垛方式、取向和表面形貌等结构特征进行的研究工作,介绍了利用高分辨透射电子显微术在Graphene的表面缺陷、边缘结构及吸附原子等研究领域取得的最新结果.     

石墨烯的透射电子显微学研究

石墨烯（Graphene）是近几年迅速发展起来的研究热点材料之一.利用透射电子显微镜（TEM）研究Graphene的结构特征和原子动态过程,是 Graphene研究的重要进展.文章评述了利用透射电子衍射方法对Graphene的层数、堆垛方式、取向和表面形貌等结构特征进行的研究工作,介绍了利用高分辨透射电子显微术在Graphene的表面缺陷、边缘结构及吸附原子等研究领域取得的最新结果.     

原位透射电子显微学进展及应用

文章简要介绍了近年来原位透射电子显微学的进展,并指出,原位透射电子显微技术的发展使得在纳米、原子层次观察样品在力、热、电、磁作用下以及化学反应过程中的微结构演化成为可能。通过研究物质在外界环境作用下的微结构演化规律,揭示其原子结构与物理化学性质的相关性,指导其设计合成和微结构调控,促进新物质的探索和深层次物质结构研究,为解决凝聚态物理学中的具体问题提供了直接、准确和详细的方法。     

原位透射电子显微学进展及应用

文章简要介绍了近年来原位透射电子显微学的进展,并指出,原位透射电子显微技术的发展使得在纳米、原子层次观察样品在力、热、电、磁作用下以及化学反应过程中的微结构演化成为可能。通过研究物质在外界环境作用下的微结构演化规律,揭示其原子结构与物理化学性质的相关性,指导其设计合成和微结构调控,促进新物质的探索和深层次物质结构研究,为解决凝聚态物理学中的具体问题提供了直接、准确和详细的方法。     

日本电子显微学专家植田夏教授来华讲学

日本京都大学化学研究所植四夏教授曾最先用高分统电子显微镜直接观察到有机晶体的分子象.1978年3月我国报纸曾就此作过报道,并刊登了他拍摄的有机染料氯代酞青铜分子象。1980年他应中国科学院邀请于10月11日至29日来华讲学访问. 植田县教授在中国科学院物理研究所以高分辨电子     

电子显微学进展及其在材料科学中的应用

文章简要介绍了高分辨电子显微学方法和电子能量损失谱的进展.文中特别指出,随着电子显微技术的发展,原子分辨电子显微图像对结构问题的深入研究有重要作用.装备有能量单色器的新一代电子显微镜,可以直接给出高能量分辨率的电子能量损失谱(优于 0.1eV).这些先进技术方法的应用,推动了晶体结构学、材料科学、物理学、纳米科学及生命科学的发展,也为解决很多重要结构问题奠定了基础.文章重点讨论了几个典型功能材料体系的结构问题：利用大角度会聚束电子衍射技术,分析了应变硅器件中的应变分布;利用原位电子显微技术,研究了新型电子铁电体LuFe2O4电荷序和物理性能的关系;深入探讨了强关联体系中电子关联效应对电子能量损失谱和电子结构的影响.     

近代电子显微学在材料科学上的应用

固体材料的应用日趋广泛,稳定材料工艺、改善性能、不断探索具有特定性能的新材料是生产斗争向材料科学提出的问题．材料科学的一个重要任务是了解材料的形成和处理过程、结构（包活晶体结构、缺陷、组分等）以及性能之间的相互关系,总结其规律．材料的形成过程不同会使材料的结构和性能有差异,各种材料的物理性能（力学、光学、电学、磁学和超导性能等）又大都与结构有关,因而研究材料结构是了解材料工艺与性能之间关系的?...     

高分辨电子显微学第一次学术交流会简讯

中国电子显微学会高分辨电子显微学第一次学术交流会于1983年8月16日至25日在沈阳举行.来自十一个省市的七十余名电镜工作者参加了会议. 会议的第一阶段是介绍高分辨电子显微学基础知识的讲座.各讲的论题是:(1)高分辨电子显微学发展及现状的概述;(2)成象原理;(3)高分辨电镜的特     

电子显微学进展及其在材料科学中的应用

文章简要介绍了高分辨电子显微学方法和电子能量损失谱的进展.文中特别指出,随着电子显微技术的发展,原子分辨电子显微图像对结构问题的深入研究有重要作用.装备有能量单色器的新一代电子显微镜,可以直接给出高能量分辨率的电子能量损失谱(优于 0.1eV).这些先进技术方法的应用,推动了晶体结构学、材料科学、物理学、纳米科学及生命科学的发展,也为解决很多重要结构问题奠定了基础.文章重点讨论了几个典型功能材料体系的结构问题:利用大角度会聚束电子衍射技术,分析了应变硅器件中的应变分布;利用原位电子显微技术,研究了新型电子铁电体LuFe2O4电荷序和物理性能的关系;深入探讨了强关联体系中电子关联效应对电子能量损失谱和电子结构的影响.     

蠕变-疲劳交互作用的电子显微学研究

用透射电子显微镜和扫描电子显微镜研究了一种镍基合金(Nimonic 75型)蠕变-疲劳交互作用的机制。在温度873K,应力幅392MPa下进行的实验表明,蠕变、疲劳和“蠕变叠加疲劳”数据近似满足线性积累损伤规律。扫描电子显微镜断口观察表明,所有试样均发生晶间型断裂。但用透射电子显微镜进行的位错观察指出,在蠕变、疲劳和“蠕变叠加疲劳”试样中,位错组态有明显的差别。这些不同的位错组态,对晶间断裂过程产生了各自不同的影响,因而蠕变损伤与疲劳损伤相互独立,在宏观上表现出线性交互作用的规律。本工作表明,透射电子显微 关键词：     

第五届全国材料科学中电子显微学会议和第七届全国化工纺织电子显微学会议简讯

第五届全国材料科学中电子显微学会议和第七届全国化工纺织电子显微学会议简讯“第五届全国材料科学中电子显微学会议”和“第七届全国化工纺织电子显微学会议”于１９９３年１１月２２日至２７日在福州市召开，来自全国４６个单位的７３名代表出席了会议。这次会议的论文...     

原位电子显微学探索固体中的离子迁移行为

离子在固体材料中的迁移是很多应用的基础,包括锂离子电池、存取器件及催化剂等。研究固体材料中的离子迁移行为是固态离子学的核心内容。微观上,固体中离子迁移的行为取决于材料微观结构所确定的局域势垒特征。因此,研究离子迁移行为与微观结构的关联至为重要。文章讲述了具有高空间分辨率的原位透射电子显微镜技术用于锂离子电池材料、阻变存储材料等体系中离子迁移行为的研究现状与发展趋势。     

高分辨电子显微学中的赝弱相位物体近似

本文提出了高分辨电子显微象的赝弱相位物体近似。指出了选用不同晶体厚度的高分辨电子显微象来择优显示晶体结构中轻、重不同原子的可能性。 关键词：     

英国电子显微学专家A.Howie博士来华讲学

应中国科学院的邀请,英国皇家学会会员剑桥大学卡文迪许实验室金属物理组A.Howie博士于1980)年10月12日至28日在华讲学. 在北京期间,A.Howte博士在北大举行了具有研究生课程水平的系统讲座共21学时,并在参观各有关单位时进行了多次学术讨论.参加听讲和讨论的有全国约70个单位的电子显微学工作者共180人. 上述讲座系统地介绍了电子衍射衬度理论、高分辨率电子显微学和扫描透射电子显微术的基本原理,并给出有关的20个习题;讨论了仪器改过和应用的相互促进;并例举了近年来一些新的重要成果,例如(1)在应用衍射衬度理论方面,直接观察到铜晶体氧…     

从鲁斯卡获诺贝尔物理奖看电子显微学的发展

１９８６年的诺贝尔物理奖授给西德的鲁斯卡教授,表彰他在二十年代末与三十年代初在电子光学的基础研究和设计电子显微镜方面做出的杰出贡献．这是继英国物理学家克鲁格因为发展了晶体电子显微学,观察到病毒、染色质等生物大分子结构而获得１９８２年诺贝尔化学奖后,国际自然科学界对电子显微学的重要意义的又一次肯定。自从哲学家在两千多年前提出原子的概念后,直接观察原子一直是人们的美好愿望．十七世纪光学显微镜问世?...     

高分辨电子显微学与电子衍射相结合的图像处理方法

介绍了一种测定晶体结构的图像处理技术，它基于高分辨电子显微学与电子电子衍射的结合。中给出了其方法的示意图。     

高分辨电子显微学的拓荒者——缅怀李方华先生

2020年的春节格外沉重。突如其来的新冠病毒疫情威胁,导致我们关停了实验室,停止了大部分的正常工作。就在这个除夕夜我们悲痛地失去了一位良师益友、杰出的晶体物理学家——李方华先生。李先生在电子衍射和电子显微图像处理领域深耕数十年,是中国单晶体电子衍射结构分析的开创者、建立和发展高分辨电子显微学的代表人物。