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ZnGeP2晶体2~2.5μm点缺陷研究
引用本文:方声浩,谢华,杨顺达,庄巍,叶宁.ZnGeP2晶体2~2.5μm点缺陷研究[J].人工晶体学报,2019,48(12):2169-2173.
作者姓名:方声浩  谢华  杨顺达  庄巍  叶宁
作者单位:中国科学院福建物质结构研究所,福州,350002
基金项目:国家自然科学基金重大项目(51890862)
摘    要:ZnGeP2晶体在2~2.5μm有几个吸收峰,GeZn及VZn这两种点缺陷对此波段吸收峰产生影响.利用实验与模拟计算相结合方法进行研究,首先通过理论计算的方法确定了理想ZnGeP2晶体的电子本征吸收和自由激子吸收引起的吸收位能量大于1.85eV区间,对应的波长小于670 nm.其次通过实验的方法采用过量0.5at;Ge的非化学计量配比,生长出了有大量的GeZn缺陷的晶体,再在富P的环境下退火.通过与化学计量比生长的ZnGeP2晶体吸收谱对比分析得知:2~2.3μm的吸收峰主要是GeZn缺陷产生的,2.4μm以后的吸收峰为VZn点缺陷产生.最后基于密度泛函理论,运用VASP软件包来进行第一性原理计算,验证了这一结论.

关 键 词:ZnGeP2  GeZn点缺陷  VZn点缺陷  红外吸收谱  

Study on Point Defects of ZnGeP2 Crystal in 2-2.5μm
FANG Sheng-hao,XIE Hua,YANG Shun-da,ZHUANG Wei,YE Ning.Study on Point Defects of ZnGeP2 Crystal in 2-2.5μm[J].Journal of Synthetic Crystals,2019,48(12):2169-2173.
Authors:FANG Sheng-hao  XIE Hua  YANG Shun-da  ZHUANG Wei  YE Ning
Abstract:
Keywords:
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