用联合D0和D+单双标记测定分支比的方法 |
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引用本文: | 荣刚,赵家伟,罗春晖,严武光,徐春成,张达华,衡月昆,何康林,赵海文,毛慧顺,马基茂,陈宏芳,张纯.用联合D0和D+单双标记测定分支比的方法[J].中国物理 C,2002,26(3):207-215. |
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作者姓名: | 荣刚 赵家伟 罗春晖 严武光 徐春成 张达华 衡月昆 何康林 赵海文 毛慧顺 马基茂 陈宏芳 张纯 |
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作者单位: | 荣刚(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);荣刚(中国科学技术大学近代物理系,合肥,230027);赵家伟(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);罗春晖(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);严武光(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);徐春成(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);张达华(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);衡月昆(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);何康林(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);赵海文(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);毛慧顺(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);马基茂(中国科学技术大学近代物理系,合肥,230027);陈宏芳(中国科学院高能物理研究所,北京,100039) |
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基金项目: | 国家自然科学基金(19991480,19825116),中国科学院九五重大项目(KT95T-03)资助 |
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摘 要: | 报道了用“联合D0和D+单双标记”测定衰变分支比的方法.基于北京谱仪(BES)在北京正负电子对撞机(BEPC)质心系能量s=4.03GeV处获取的数据,利用联合D0和D+单双标记的方法,可以测定D0和D+介子单举和遍举衰变分支比.作为该方法的应用举例,利用BES实验组发表的数据,在90%置信度的情况下,测得D+→e+ν衰变过程分支比的上限为Br(D+→e+ν)<1.6%.此上限值与BES曾发表的结果一致.
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关 键 词: | 北京谱仪(BES) 北京正负电子对撞机(BEPC) D介子 单标记 双标记 单举衰变 分支比 |
收稿时间: | 2001-5-16 |
修稿时间: | 2001年5月16日 |
0 and D+ Single and Double Tags to
Measure Their Branching Fractions and Its Application |
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