| ZnSe/SiO2复合薄膜光学常数与荧光光谱的研究 |
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| 引用本文： | 姜海青,姚熹,车俊,汪敏强.ZnSe/SiO2复合薄膜光学常数与荧光光谱的研究[J].物理学报,2006,55(4). |
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| 作者姓名： | 姜海青 姚熹 车俊 汪敏强 |
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| 基金项目： | 科技部科研项目;中国-以色列国际合作研究项目 |
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| 摘 要： | 采用溶胶-凝胶工艺与原位生长技术,制备了ZnSe/SiO2复合薄膜.X射线衍射分析表明薄膜中ZnSe晶体呈立方闪锌矿结构.X射线荧光分析结果显示薄膜中Zn与Se摩尔比为1:1.01-1:1.19.利用场发射扫描电子显微镜观察了复合薄膜的表面形貌,结果表明复合薄膜表面既存在尺寸约为400nm的ZnSe晶粒,也存在尺寸小于100nm的ZnSe晶粒.利用椭偏仪测量了薄膜椭偏角Ψ,Δ与波长λ的关系,采用Maxwell-Garnett有效介质理论对薄膜的光学常数、厚度、气孔率、ZnSe的浓度进行了数据拟合.利用荧光光谱分析了薄膜的光致发光,结果表明在波长为395nm的激发光下,487nm的发射峰对应着闪锌矿型ZnSe的带边发射,同时也观测到薄膜中ZnSe晶体增强的自由激子发射及伴随着ZnSe晶体缺陷而产生的辐射发光.
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| 关 键 词： | ZnSe/SiO2复合薄膜 光学性质 椭偏光度法 荧光光谱 |
Luminescence and optical constant of ZnSe/SiO2 composite thin films |
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| Jiang Hai-Qing,Yao Xi,Che Jun,Wang Min-Qiang.Luminescence and optical constant of ZnSe/SiO2 composite thin films[J].Acta Physica Sinica,2006,55(4). |
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| Authors: | Jiang Hai-Qing Yao Xi Che Jun Wang Min-Qiang |
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