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掺铝3C-SiC电子结构的第一性原理计算及其微波介电性能
引用本文:李智敏,施建章,卫晓黑,李培咸,黄云霞,李桂芳,郝跃.掺铝3C-SiC电子结构的第一性原理计算及其微波介电性能[J].物理学报,2012,61(23):410-415.
作者姓名:李智敏  施建章  卫晓黑  李培咸  黄云霞  李桂芳  郝跃
作者单位:1. 西安电子科技大学技术物理学院,西安710071 西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件重点实验室,西安710071
2. 西安电子科技大学技术物理学院,西安,710071
3. 西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件重点实验室,西安,710071
基金项目:中央高校基本科研业务费专项资金资助项目
摘    要:采用基于密度泛函理论的第一性原理平面波超软赝势法,对比研究了未掺杂和Al掺杂3C-SiC材料的电子结构和介电常数.结果表明:Al掺杂后,Fermi能级进入价带,带隙宽度略为加宽,在8.2—12.4 GHz范围内介电常数大幅度增大.利用燃烧合成法制备了Al掺杂的3C-SiC粉体吸收剂,通过矢量网络分析仪测试了样品在8.2—12.4 GHz范围内的微波介电常数,验证了理论计算结果,并讨论了微波损耗机理.

关 键 词:Al掺杂SiC  第一性原理  能带结构  介电性能

First principles calculation of electronic structure for Al-doped 3C-SiC and its microwave dielectric properties
Li Zhi-Min,Shi Jian-Zhang,Wei Xiao-Hei,Li Pei-Xian,Huang Yun-Xia,Li Gui-Fang,Hao Yue.First principles calculation of electronic structure for Al-doped 3C-SiC and its microwave dielectric properties[J].Acta Physica Sinica,2012,61(23):410-415.
Authors:Li Zhi-Min  Shi Jian-Zhang  Wei Xiao-Hei  Li Pei-Xian  Huang Yun-Xia  Li Gui-Fang  Hao Yue
Affiliation:(2)) 1)(School of Technical Physics,Xidian University,Xi’an 710071,China) 2)(Key Laboratory of Wide Band-gap Semiconductor Materials & Devices,Xidian University,Xi’an 710071,China)
Abstract:
Keywords:Al-doped SiC  first principles  band structure  dielectric property
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