首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

Ge_xSi_(1-x)合金中的键长及其对电子能带结构的影响
引用本文:徐至中.Ge_xSi_(1-x)合金中的键长及其对电子能带结构的影响[J].物理学报,1994(7).
作者姓名:徐至中
作者单位:复旦大学应用表面物理实验室
摘    要:采用经验紧束缚理论,以类似闪锌矿结构的晶体模型模拟Ge_xSi_(1-x)合金,根据总能最小原则计算了Ge_xSi_(1-x)合金中的键长及点阵常数.同时以紧束缚方法计算了原子位置发生弛豫前后的电子能带结构,并与虚晶近似下的计算结果进行了比较.计算结果表明,Ge_xSi_(1-x)合金中的键长基本上与合金组分无关,各自接近于Ge,Si晶体中的键长,与广延x射线吸收精细结构(EXAFS)测量结果符合得很好.原子位置的弛豫对合金的电子能带结构影响很小,对合金的电子能带结构起主要作用的是合金的化学组分无序.

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
点击此处可从《物理学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《物理学报》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号