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用X射线散射法研究HF,HCI,H_2SO_4和HAC对磷脂酰乙醇胺液晶结构影响的机理
引用本文:孙润广,张静,王德华,王丰然,王子浩.用X射线散射法研究HF,HCI,H_2SO_4和HAC对磷脂酰乙醇胺液晶结构影响的机理[J].物理学报,1993(3).
作者姓名:孙润广  张静  王德华  王丰然  王子浩
作者单位:陕西师范大学实验中心,西安市化工研究所,陕西师范大学实验中心,陕西师范大学实验中心,陕西师范大学实验中心 西安 710062,西安 710062,西安 710062,西安 710062
摘    要:采用小角X射线散射法(SAXS)研究了HF,HCl,H_2SO_4和HAC分别对含水磷脂酰乙醇胺(PE)液晶结构的影响。通过研究发现,HF有使PE液晶态变成C相的机理,HCl有使PE液晶态变成LH相的机理,H_2SO_4有使PE液晶态变成L相的机理。而HAC则有使PE液晶态经过L相转变成LH相的机理。

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