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| 基于超强耦合量子点-纳米机械振子系统的全光学质量传感 | |
| 摘 要： | 提出一种复合量子点-纳米机械振子系统,该系统以半导体芯片为基底,量子点嵌入倒置半导体圆锥纳米线的底端,通过光学抽运-探测技术来驱动量子点-纳米机械振子系统,研究该系统中的相干光学特性.通过探测吸收谱给出确定机械振子频率和量子点-纳米机械振子耦合强度的全光学方法.此外,基于该系统理论上提出一种在室温下的全光学质量传感方案.通过测量吸收谱中附着在机械振子上纳米颗粒的质量引起的共振频移,可间接测出额外纳米颗粒的质量.与先前的复合纳米机械振子系统相比,系统中的激子-声子耦合强度的数值可与振子频率比拟,可实现超强耦合,有利于相干光学特性的观测,在超高精度及高分辨率质量传感器件方面有着潜在应用. |
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