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| c向静电场作用下α-LiIO_3单晶的喇曼谱“串线”和谱线强度改变的机理 | |
| 引用本文： | 杨华光,李晨曦,许政一.c向静电场作用下α-LiIO_3单晶的喇曼谱“串线”和谱线强度改变的机理[J].物理学报,1983(4). |
| 作者姓名： | 杨华光 李晨曦 许政一 |
| 作者单位： | 中国科学院物理研究所 (杨华光，李晨曦)，中国科学院物理研究所(许政一) |
| 摘 要： | 在c向静电场作用下,α-LiIO_3单晶的喇曼谱发生“串线”,并且谱线强度改变。本文分析了这一现象的起因:由于离子输运引起的空间电荷涨落使α-LiIO_3单晶的极化率张量和喇曼张量主轴方向发生涨落。前者产生oe光散射,散射光再发生一次喇曼散射,造成喇曼谱“串线”和谱线强度的改变;后者直接造成喇曼诺“串线”和谱线强度的变化。前者的贡献远大于后者。 |
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