| 人造金刚石晶体中微观杂质的TEM分析 |
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| 引用本文： | 尹龙卫,邹增大,李木森,孙东升,郑培智,郝兆印.人造金刚石晶体中微观杂质的TEM分析[J].人工晶体学报,2000,29(4):394-398. |
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| 作者姓名： | 尹龙卫 邹增大 李木森 孙东升 郑培智 郝兆印 |
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| 作者单位： | 山东工业大学材料科学与工程学院,济南,250061;吉林大学国家超硬材料重点实验室,长春,130012 |
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| 基金项目： | 中国科学院资助项目，教育部优秀青年教师资助计划 |
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| 摘 要： | 本文成功地利用透射电子显微术探讨了高温高压条件下于Fe-Ni-C系统中生长的人造金刚石单晶内部的微观杂质.分析了金刚石晶体中杂质的微观结构、化学成分组成、晶体结构及其可能形成的原因.研究结果表明,金刚石晶体中微观杂质与原材料、传压介质和高温高压过程密切相关,主要由面心立方(FeNi)23C6,正交结构的FeSi2,面心立方SiC和非晶态石墨组成.
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| 关 键 词： | 人造金刚石 微观杂质 高温高压 透射电子显微术 |
| 修稿时间： | 2000-04-11 |
TEM Investigation on Micro-inclusions Contained in Synthetic Diamond Single Crystal |
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| YIN Long-wei,ZOU Zeng-da,LI Mu-sen,SUN Dong-sheng,ZHENG Pei-zhi,HAO Zhao-yin.TEM Investigation on Micro-inclusions Contained in Synthetic Diamond Single Crystal[J].Journal of Synthetic Crystals,2000,29(4):394-398. |
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| Authors: | YIN Long-wei ZOU Zeng-da LI Mu-sen SUN Dong-sheng ZHENG Pei-zhi HAO Zhao-yin |
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