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CdSxTe1-r多晶薄膜的制备与性质研究
引用本文:李卫,冯良桓,武莉莉,蔡亚平,张静全,郑家贵,蔡伟,黎兵,雷智,张冬敏.CdSxTe1-r多晶薄膜的制备与性质研究[J].物理学报,2005,54(4):1879-1884.
作者姓名:李卫  冯良桓  武莉莉  蔡亚平  张静全  郑家贵  蔡伟  黎兵  雷智  张冬敏
作者单位:四川大学材料科学与工程学院,成都,610064
基金项目:国家高技术研究发展计划(批准号:2003AA513010)资助的课题.
摘    要:采用真空共蒸发方法制备了CdSxTe1-x多晶薄膜,并用原子力显微镜、x射线衍射和光学透过率谱等研究了CdSxTe1-x多晶薄膜的结构和性质.结果表明薄膜均匀、致密、无微孔,当x≥0.5时为n型半导体,x<0.5时为p型半导体.CdSxTe1-x多晶薄膜的光学能隙随x变化.结合薄膜的晶格常数和光学能隙得到了薄膜发生相变的组分,当x<0.25时CdSxTe1-x多晶薄膜为立方相,当x>0.25时为六方结构.退火后结构没有改变,能隙减小.提出了用CdSxTe1-x多晶薄膜作为缓冲层的新型结构太阳电池.

关 键 词:CdSxTe1-x  共蒸发法  相变  太阳电池
文章编号:1000-3290/2005/54(04)/1879-06
修稿时间:2004年9月8日

Preparation and properties of polycrystalline CdSxTe1-x thin films for solar cells
Li Wei,FENG Liang-Huan,Wu Li-Li,CAI Ya-Ping,Zhang Jing-Quan,ZHENG Jia-Gui,Cai Wei,Li Bing,Lei Zhi,ZHANG Dong-min.Preparation and properties of polycrystalline CdSxTe1-x thin films for solar cells[J].Acta Physica Sinica,2005,54(4):1879-1884.
Authors:Li Wei  FENG Liang-Huan  Wu Li-Li  CAI Ya-Ping  Zhang Jing-Quan  ZHENG Jia-Gui  Cai Wei  Li Bing  Lei Zhi  ZHANG Dong-min
Abstract:
Keywords:
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